Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005

I4: FELMI-ZFE, TU GrazMaß an Interdisziplinarität und die enge Verbindungzwischen Grundlagenforschung und angewandterwirtschaftsnaher Forschung auszeichnet. Nationaleund internationale Kooperationen mit führendenForschungseinrichtungen sichern den hohen Standardunserer Forschungsarbeiten.Im Forschungsverbund beschäftigen sich derzeit45 Mitarbeiter und Mitarbeiterinnen mit folgendenSchwerpunkten:MikrobereichsanalytikIn-situ-ElektronenmikroskopieNanoanalytikNanostrukturierung von BauelementenIm Bereich „Mikrobereichsanalytik“ konzentrierensich die Arbeiten auf Entwicklungen in der Rasterelektronenmikroskopie(REM), mit der die meistenFestkörper, Werkstoffe und Bauelemente in Bezugauf Topographie, chemische Zusammensetzungund Kristallographie mit einer Auflösung von etwa0,1 μm bis 1 μm charakterisiert werden können.Dazu werden Röntgenspektrometrie (EDXS) undRückstreuelektronenbeugung (EBSD) eingesetztund mit modernen Methoden der Lichtmikroskopieund der Rastersondenmikroskopien verknüpft. Im„klassischen“ Rasterelektronenmikroskop sind Untersuchungennur im Hochvakuum möglich, feuchteProben können daher nicht direkt untersucht werden.Mit der Einführung des „Environmental“-Rasterelektronenmikroskops(ESEM) können neuerdingsauch feuchte bzw. Feuchtigkeit enthaltende Probenuntersucht werden, wodurch der Einsatzbereich invielfacher Hinsicht erweitert wird. Das Hauptziel desForschungsbereichs „In-situ-Elektronenmikroskopie“liegt in der Entwicklung von dynamischen Untersuchungsmethodenwie z.B. Zug- und Druckuntersuchungenan Polymeren und Verbundwerkstoffen,chemische Reaktionen in und auf Festkörpern beiverschiedenen Temperaturen (-170°C bis 1500°C)und unter verschiedenen Gasatmosphären.Da die Mikrostruktur von Polymeren und Biomaterialienfür die Optimierung der makroskopischenEigenschaften eine immer größere Rolle spielt,wurden die Forschungsarbeiten auch auf Raman-und Infrarot-Mikrospektrometrie ausgedehnt. Damitkönnen die am Institut hoch entwickelten Methodenfür die morphologische Charakterisierung vonIndex Kontakte Institute Lösungen MethodenAbbildung 3:Schreiben mit einem fokussiertenIonenstrahl in der „Focused Ion Beam“-Anlage.Abbildung 4:Hochauflösungs-TEM-Bild eines PtMo-Katalysator-Teilchens (Durchmesser60 nm).Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005231