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Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005

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LösungenL32: Rastertunnelmikroskopie an mo<strong>der</strong>nen WerkzeugstählenL32: Rastertunnelmikroskopiean mo<strong>der</strong>nen WerkzeugstählenIm Allgemeinen wird das Rastertunnelmikroskopfür Untersuchungen an gut definierten Oberflächenwie z.B. an Einkristallen eingesetzt. Die tatsächlicheForm <strong>der</strong> Spitze, die den Abbildungskontrast imWesentlichen beeinflusst, ist bei vielen im Betriebstehenden Mikroskopen generell nicht bekannt.In dem, am Institut für Festkörperphysik,TU Graz, installierten Rastertunnelmikroskop isteine 3D-Atomsonde im gleichen Ultrahochvakuumsystemintegriert, in dem die Sondenspitzenvor <strong>der</strong> Verwendung im Rastertunnelmikroskopcharakterisiert und modifiziert werden können. Ausdiesem Vorteil heraus kann mit einer definiertenSondenspitze auch die Topografie von unbekannten,komplexeren Oberflächenstrukturen zuverlässiguntersucht werden.Als Beispiel ist in Abb. 1 ein Rastertunnelbild<strong>der</strong> Oberfläche eines mo<strong>der</strong>nen Werkzeugstahlesnach Härten und Anlassen dargestellt. Im Bildbereich(100 x 100 nm 2 ) ist ein Teil <strong>der</strong> martensitischenMatrix wie<strong>der</strong>gegeben. Die 2 bis 10 nm breitenLamellen sind durch Stufen von etwa 1 nm Höhegetrennt. Aus <strong>der</strong> ultrafeinen Struktur können wichtigeRückschlüsse auf Phasenumwandlung undKinetik erhalten werden.Die Abbildungsergebnisse sind ähnlich denResultaten aus Replikaaufnahmen im Elektronenmikroskop.Das Rastertunnelmikroskop als direktabbildendesVerfahren hat aber den Vorteil <strong>der</strong>deutlich besseren lateralen Auflösung, weiters istdie Präparation <strong>der</strong> Proben wesentlich einfacher.Manfred LeischTechnische Universität GrazInstitut für FestkörperphysikAbbildung 1:Rastertunnelmikroskopische Abbildung<strong>der</strong> Oberfläche eines hochlegiertenWerkzeugstahles. Der Bildbereich von100 x 100 nm 2 zeigt die Feinststruktur<strong>der</strong> Matrix nach Härten und Anlassen.Die zu beobachtenden Lamellen sindca. 2 bis 10 nm breit und zeigen Stufenvon ca. 1 nm Höhe.Methoden:M31Lösungen: —Institute:I8Kontakte:K27Direktabbildung | Nanostrukturen | Rastertunnelmikroskopie | Stähle | STM | Werkzeugstähle196<strong>Handbuch</strong> <strong>der</strong> <strong>Nanoanalytik</strong> <strong>Steiermark</strong> <strong>2005</strong>

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