Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005

M24: Photoemissions-Elektronenmikroskopie (PEEM)Die Beleuchtung einer Oberfläche mit Photonen,deren Energie größer als die mittlere Austrittsarbeitder Probenoberfläche (typisch ungefähr 5 eV) ist,bewirkt die Emission von Photoelektronen. DasPEEM-Bild spiegelt lokale Änderungen der Photoelektronenausbeutewider, und der Kontrast wird inerster Näherung durch Unterschiede in der lokalenAustrittsarbeit bestimmt. Diese ist stark von derchemischen Zusammensetzung der Oberfläche abhängigund erlaubt beispielsweise die Detektion unterschiedlicherkristallographischer Orientierungenoder kleinster Adsorbatkonzentrationen. Für dieses„klassische“ PEEM werden, abhängig vom Bereichder Austrittsarbeit, Standardlaborlichtquellen wieQuecksilber- (hν max = 4,9 eV) und Deuteriumlampen(hv max = 6,4 eV) verwendet.Svetlozar Surnev, Michael Ramsey, Falko NetzerKarl-Franzens-Universität GrazInstitut für Physik, Bereich Experimentalphysik,Oberflächen- und GrenzflächenphysikMethoden: —Lösungen:L41Institute:I11Kontakte:K36Austrittsarbeit | Deuteriumlampe | Elektronenbild | PEEMPhotoemissions-Elektronenmikroskopie | Quecksilberlampe62Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005