Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005

M20: Nanoindentierungeiner Probe. Gelingt es, durch geeignete Probenpräparationeine Topographie zu erzeugen, die dieMikro- und Nanostruktur des Materialgefüges gutwiderspiegelt, ermöglicht dies eine Positionierungund Durchführung des jeweiligen Indentierversuchsin einzelnen Gefügebestandteilen, Fasern, Phasen,Körnern, Ausscheidungen etc. mit einer Ausdehnungvon nur wenigen hundert Nanometern. DiePositioniergenauigkeit beträgt dabei 20 nm.Der Indentieraufsatz ist im Wesentlichen einDreiplattenkondensator (Abb. 2). Anlegen einerelektrischen Spannung an den zwei äußeren Plattenbewirkt eine elektrostatische Kraft auf die mittlerePlatte, auf der ein Stift mit der Indenterspitzemontiert ist. Die Verschiebung der mittleren Plattehat eine Kapazitätsänderung zur Folge, die, entsprechendkalibriert, als Maß für den Eindringwegder Spitze genutzt wird. Die Messauflösung für dieKraft ist deutlich besser als 1 μN, der Weg kann genauerals 0,1 nm erfasst werden. Unmittelbar nacherfolgtem Indentierexperiment kann die Probenoberflächemit den produzierten Härteeindrückenabgebildet werden (s. Abb. 3).Abbildung 3:Methoden:Nanoindents in einem Wolframkorn einesWolfram-Kupfer-Nanocomposites.M28Thomas SchöberlMontanuniversität LeobenDepartment Materialphysikund Österreichische Akademie der WissenschaftenErich-Schmid-Institut für MaterialwissenschaftLösungen:Institute:Kontakte:L17 | L27I3 | I8K43AFM | Härte | Nanoindentierung | Rasterkraftmikroskopie54Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005