Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005

L2: AFM-Untersuchungen an Pentazen-DünnschichtenAbbildung 3:Pentazen-Dünnschichten (d = 50 nm,T Substrat = RT) auf verschiedenen Dielektrika:thermisch gewachsenes SiO 2 ,Polyvinylphenol (PVP), Polyvinylzinnamat(PVCI) und Polymethylmethacrylat(PMMA).daher stärkerer Kantendiffusion, erhält man ehergroße Körner mit eckiger Berandung, während beiZimmertemperatur bevorzugt verzweigte Ränderauftreten. Die bei 75°C Abscheidetemperatur beobachteteVerringerung der Korngröße kann entwederauf einen erhöhten Volumenanteil der Bulk-Phasevon Pentazen oder eine stärkere thermische Desorption(bzw. auf eine Kombination beider Effekte)zurückgeführt werden. Aus Wachstumsversuchenauf PVP (Polyvinylphenol), wo Pentazen einphasigeDünnfilme auch bei erhöhten Substrattemperaturenbildet, kann gefolgert werden, dass maximaleKorngrößen bei Temperaturen zwischen 62°C und68°C erreicht werden. Der Anstieg der Korndichtebei höheren Substrattemperaturen kann auch aufein erhöhtes Verhältnis von desorbierenden zu diffundierendenMolekülen zurückgeführt werden. EinAbbildung 4:Erste Monolagen von Pentazen aufSiO 2 -Oberflächen. Aufdampfrate