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Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005

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LösungenL43: XPS-Untersuchungen an Titanoxid-SchichtenL43: XPS-Untersuchungen anTitanoxid-SchichtenTitanoxid (TiO 2 ) weist neben guten dielektrischenEigenschaften (ε r ~ 100) auch einen hohenBrechungsindex von ca. 2,5 auf. Da sich TiO 2 außerdemmit dem PLD(Pulsed Laser Deposition)-Verfahren i. A. sehr gut reaktiv abscheiden lässt,ist es für hochreflektierende optische Vielschichtsystemeein aussichtsreicher Kandidat als Schichtmaterialmit hohem Brechungsindex.Sauerstofffluss während des reaktiven PLD-Prozesseseine stabilere TiO 2 -Schicht erzeugt. Der relativeAnteil des durch Sputtern reduzierten Titans ist beihöherem Sauerstofffluss geringer (s. Abb. 3).Alexan<strong>der</strong> FianJOANNEUM RESEARCH Forschungsgesellschaft mbHInstitut für Nanostrukturierte Materialien und PhotonikDie lichtmikroskopische Auswertung von mittelsPLD hergestellten Proben ergibt tendenziell geringerSchichtdefekte (Droplets, Partikel) für niedrigereLaserstrahlungs-Intensitäten bei <strong>der</strong> Verdampfung(Abb. 1). Durch Variation des O 2 -Flusses während<strong>der</strong> reaktiven Abscheidung ist nur ein geringer Einflussauf die Schichtqualität erreichbar.Für die XPS-Messungen mussten die Probenvor <strong>der</strong> Messung durch Sputtern gereinigt werden.Es zeigten sich unterschiedlich starke Verunreinigungen<strong>der</strong> Schichten, die sich ohne Reinigungbei <strong>der</strong> quantitativen XPS-Analyse stark auswirkenwürden. Die Peakposition des Ti-2p-Dubletts beiden ungereinigten Proben entspricht jedoch miteinem „chemical shift“ von 4,8 eV im Vergleich zummetallischen Peak genau jener des TiO 2 (s. Abb. 2).Die Sputterreinigung <strong>der</strong> TiO x -Schichten vor <strong>der</strong>XPS-Messung zeigte eine deutliche Reduktion desMaterials (präferentielles Sputtern von Sauerstoff).Zum direkten Vergleich wurden die verschiedenenProben gleich lange (20 Minuten) mit einer Sputterenergievon 500 eV von Kohlenstoffverunreinigungenbefreit. Hier zeigt es sich, dass ein höhererAbbildung 1:Lichtmikroskopische Aufnahmen<strong>der</strong> durch Verdampfung aus einemmetallischen Titan-Target bei 5 sccm(a,c,e) bzw. 30 sccm (b,d,f) O 2 -Gasflussund variieren<strong>der</strong> Leistungsdichte des1064 nm Laserstrahls auf dem Targetabgeschiedene TiO x -Schichten (Beschichtungsdauer:45 min). Die Leistungsdichtewird durch die Fokuslagedes Laserstrahls beschrieben, wobeikleine Abstände des Fokuspunkts desLaserstrahls hohe Leistungsdichtenrepräsentieren: (a,b) 8 cm, (c,d) 12 cmund (e,f) 24 cm.218<strong>Handbuch</strong> <strong>der</strong> <strong>Nanoanalytik</strong> <strong>Steiermark</strong> <strong>2005</strong>

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