Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005

M34: Röntgenbeugung – Polfigurtechnik (XRD-PF)auf einen einzigen Netzebenenabstand d hkl reduziert.Die Variation des Streuwinkels wird durch einesystematische Änderung der Goniometerwinkel ψund φ zu jeder möglichen Kombination von ψ und φim Bereich ψ = 0 … 90° und φ = 0 … 360° erreicht.Für jedes ψ /φ -Paar wird die gestreute Intensitätgemessen. Ein Messergebnis wird in einem kreisförmigenDiagramm unter der Angabe der Intensitätin Konturlinien dargestellt. Richtungen mit hoher Intensitätwerden mit „erhöhter Poldichte“ (enhancedpole densities) bezeichnet (s. Abb. 1, rechts).Mehrere Polfiguren können durch die Variationder Bragg-Bedingung gemessen werden (s. Abb. 2,links). Die Zusammensetzung der Informationen ausden einzelnen Polfiguren führt zu Orientierungsfunktionenwie „inversen Polfiguren“ oder der „OrientationDistribution Function“.In der Nanoanalytik wird die Polfigurtechnik zureindeutigen Bestimmung der Kristallorientierungin dünnen Filmen verwendet. Die Orientierung vonkleinsten Kristalliten in dünnen Filmen gibt Auskunftüber Wachstumsmechanismen der Kristalliteauf Oberflächen. Die Röntgendiffraktometrie-Polfigurtechnik ist keinesfalls als Konkurrenz zuMethoden der Eletronendiffraktometrie zu sehen,vielmehr bietet die Polfigurtechnik durch die hoheWinkelauflösung, die gleichzeitigen Möglichkeit derUntersuchung von Substrat und Film, die Zerstörungsfreiheitder Methodik und durch den integralenCharakter einen anderen Zugang zur Charakterisierungvon Nanokristalliten auf Oberflächen.Weiterführende Literatur[1] L. Alexander (1979) „X-Ray Diffraction Methodsin Polymer Science“. Krieger Publishing,New York. 582 Seiten.[2] I. Salzmann, R. Resel (2004) „STEREOPOLE:software for the analysis of x-ray diffractionpole figures with IDL“. Journal of Applied Crystallography37, 1029 – 33.Abbildung 2:Methoden:Thomas Haber, Roland ReselTechnische Universität GrazInstitut für FestkörperphysikEin Satz von vier Polfiguren von einer100 nm dicken Schicht des organischenHalbleiters Sexiphenyl (C 36 H 26 ),gewachsen auf einem Glassubstrat(links). Die aus den Polfiguren abgeleiteteOrientierung der Moleküle relativzu dem Glassubstrat, dargestellt ineiner Frontal- und einer Seitenansicht(rechts).M33 | M35 | M36Lösungen: —Institute:Kontakte:I8 | I3 | I15K38Index Kontakte Institute Lösungen MethodenKristallorientierung | Polfigur | Röntgenbeugung/diffraktion | Röntgendiffraktometrie | WAXS | XRD-PFHandbuch der Nanoanalytik Steiermark 200589