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Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005

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L2: AFM-Untersuchungen an Pentazen-DünnschichtenAbbildung 5:Analyse des Wachstums von Pentazen-Schichten auf PVP. Links: AFM-Aufnahmen, Bedeckungsanteil<strong>der</strong> ersten Monolage, mittlere Korngröße und Körner pro 100 µm 2 . Rechts: Korngrößenverteilung.Methoden:M28 | M29Lösungen: —Institute:Kontakte:I10K13AFM | Halbleiter, organische | Morphologie | Pentazen | Rasterkraftmikroskopie | Schichtwachstum128<strong>Handbuch</strong> <strong>der</strong> <strong>Nanoanalytik</strong> <strong>Steiermark</strong> <strong>2005</strong>

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