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Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005

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M29: Rasterkraftmikroskopie (AFM) – Phase ImagingWeiterführende Literatur[1] S. N. Magonov, V. Elings, M. H. Whangbo(1997) „Phase imaging and stiffness in tapping-modeatomic force microscopy”. SurfaceScience 375, L385 – 91.[2] M. J. D’Amato, M. S. Marcus, M. A. Eriksson,R. W. Carpick (2004) „Phase imagingand the lever-sample tilt angle in dynamicatomic force microscopy”. APL Vol. 85(20),4738 – 40.[3] Kendall K, Tabor D (1971) „An ultrasonic studyof the area of contact between stationaryand sliding surfaces“. Proc. R. Soc. A323,321– 40.[4] S. Morita, R. Wiesendanger, E. Meyer (Eds.)(2002) „Noncontact atomic force microscopy“.Springer-Verlag, Heidelberg, 439 Seiten.[5] E. Meyer, H. J. Hug, R. Bennewitz (2004)„Scanning probe microscopy – The lab on atip“. Springer-Verlag, 210 Seiten.Ursula HaasJOANNEUM RESEARCH Forschungsgesellschaft mbHInstitut für Nanostrukturierte Materialien und PhotonikMethoden:M28 | M19Lösungen:L2Institute:Kontakte:I10K13AFM | Oberflächenelastizität | Phase Imaging | Phasensignal | Rasterkraftmikroskopie | Tapping Mode78<strong>Handbuch</strong> <strong>der</strong> <strong>Nanoanalytik</strong> <strong>Steiermark</strong> <strong>2005</strong>

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