Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005

Weitere Magazine

Empfehlungen

Info

LösungenL37: Tiefenprofilanalyse eines Polymer-LED-BauelementesL37: Tiefenprofilanalyse einesPolymer-LED-Bauelementesmittels AESEin modernes Polymer-LED (light emitting diode)-Bauelementbesteht aus den folgenden Komponenten,die aus einem elektronenmikroskopischenQuerschnittsbild ersichtlich sind (Abb. 1):einem Glassubstrat, einer Indium-Zinn-Oxid(ITO)-Elektrodenschicht, einer Polymerschicht (PEDOT),der aktiven organischen lichtemittierenden Schicht,einer Ca-Schicht (um die Kontakteigenschaftenzu verbessern) und einer Au-bedeckten Al-Kontaktschicht.Abbildung 1:SEM-Querschnittsbild eines Polymer-LED-Bauelementes.Abb. 2 zeigt ein AES-Tiefenprofil des LED-Bauelementes,das durch Abätzen der Schichten mitAr-Ionen erhalten wurde. Die AES-Messungenwurden bei einem Ar-Restgasdruck von 2 x 10 -7mbar unter Ätzen mit einem Ar-Ionenstrahl von 3keV Strahlenerergie und einer Strahlgröße von 2 x 2mm 2 durchgeführt. Nach Abätzen der Al-Kontaktschicht(6-7 min Ionenätzzeit) wird eine signifikanteKonzentration von O an der Grenzfläche zwischenAl und den organischen Schichten detektiert, derSauerstoff liegt wahrscheinlich in chemisorbierterForm vor. Interessanterweise scheint das Ca in dieorganischen Schichten zu diffundieren, was ausdem gleichzeitigen Auftreten der Ca- und C-Signalegeschlossen werden kann. Die breite Region (6-20min), die vom C-Signal dominiert wird, ist auf dieorganischen und polymeren Schichten zurückzuführen.Der Anstieg der O- und In-Signale nach~18-20 min Ionenätzzeit rührt von der ITO-Schichther. Die Grenzfläche zwischen den Polymer- undITO-Schichten ist nicht so scharf ausgeprägt wiejene zwischen der Al-Schicht und den organischenSchichten. Der scheinbare Anstieg des Al-Signalsnach ~30 min Ionenätzzeit ist durch das Überlappendes Al-Augerpeaks mit dem SiO x -Augerpeakdes Glas-Substrates zu verstehen.Svetlozar Surnev, Michael Ramsey, Falko NetzerKarl-Franzens-Universität GrazInstitut für Physik, Bereich Experimentalphysik,Oberflächen- und Grenzflächenphysik208Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005
L37: Tiefenprofilanalyse eines Polymer-LED-BauelementesAbbildung 2:AES-Tiefenprofilanalyse eines Polymer-LED-Bauelementes. Die Entwicklungder Al-, O-, C-, Ca-, S- und In-AES-Signale ist als Funktion der Ar + -Ionen-Beschusszeit aufgetragen.(ATC … atomare Konzentration)Methoden:LED | AES | Auger-Elektronenspektroskopie | DPA | Polymere | TiefenprofilM3Lösungen: —Institute:Kontakte:I11K32Index Kontakte Institute Lösungen MethodenHandbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005209
Seite 4 und 5:
Zum Geleit4. Ausbildung von Nachwuc
Seite 6 und 7:
NANONET-StyriaNANONET-Styria -Die s
Seite 8 und 9:
Einführung in die NanoanalytikEine
Seite 10 und 11:
Einführung in die NanoanalytikOrts
Seite 12 und 13:
XHandbuch der Nanoanalytik Steierma
Seite 14 und 15:
XIIHandbuch der Nanoanalytik Steier
Seite 16 und 17:
InhaltsverzeichnisM26: Präparation
Seite 18 und 19:
InhaltsverzeichnisL26: Morphologie-
Seite 21:
Methoden undInstrumentierungHandbuc
Seite 24 und 25:
M1: 3D-Atomsonde (3D APFIM)Notwendi
Seite 26 und 27:
M2: Analytische Elektronenmikroskop
Seite 28:
M3: Auger-Elektronenspektroskopie (
Seite 31 und 32:
M4: Dynamische Lichtstreuung (DLS)P
Seite 33 und 34:
M5: Elektrochemische MethodenDie ro
Seite 35 und 36:
M6: Elektrolytische PräparationDie
Seite 38 und 39:
MethodenM8: Elektronenenergieverlus
Seite 40 und 41:
M8: Elektronenenergieverlustspektro
Seite 42 und 43:
M9: EllipsometriePrinzip des Verfah
Seite 44:
M9: Ellipsometrieführen können, s
Seite 48 und 49:
MethodenM11: Energiefilterungs-Tran
Seite 50 und 51:
M11: Energiefilterungs-Transmission
Seite 52 und 53:
M12: EPR-Spektroskopie (ESR-Spektro
Seite 54 und 55:
MethodenM13: Focused Ion Beam (FIB)
Seite 56 und 57:
M13: Focused Ion Beam (FIB)Typische
Seite 58 und 59:
M14: HECUS System-3CharakteristikaH
Seite 60 und 61:
M15: Hoch-/Tieftemperatur-Pulverdif
Seite 62 und 63:
MethodenM16: Hochauflösende SQUID-
Seite 64 und 65:
MethodenM17: Hochauflösungs-TEM un
Seite 66 und 67:
M17: Hochauflösungs-TEM und Elektr
Seite 68 und 69:
M18: Hochverformung - Nanokristalli
Seite 70 und 71:
MethodenM19: Leitfähigkeits-Raster
Seite 72 und 73:
M19: Leitfähigkeits-Rasterkraftmik
Seite 74 und 75:
M20: Nanoindentierungeiner Probe. G
Seite 76 und 77:
M21: Negativkontrastierung als Diag
Seite 78 und 79:
M22: NMR-CIDNPFür die NMR- und CID
Seite 80 und 81:
M23: Oberflächenenergie von Beschi
Seite 82 und 83:
M24: Photoemissions-Elektronenmikro
Seite 84 und 85:
M25: PositronenannihilationMit den
Seite 86 und 87:
M26: Präparationstechniken in der
Seite 88 und 89:
Seite 90 und 91:
Seite 92 und 93:
M27: Rasterelektronenmikroskopie (R
Seite 94 und 95:
M28: Rasterkraftmikroskopie (AFM)Du
Seite 96:
M29: Rasterkraftmikroskopie (AFM) -
Seite 99 und 100:
MethodenM30: Rastertransmissionsele
Seite 101 und 102:
M30: Rastertransmissionselektronenm
Seite 103 und 104:
M31: Rastertunnel mikroskopie (RTM
Seite 105 und 106:
M32: Röntgen- und Ultraviolett-Pho
Seite 107 und 108:
M33: Röntgenbeugung - Linienprofil
Seite 109 und 110:
M34: Röntgenbeugung - Polfigurtech
Seite 111 und 112:
M35: Röntgenkleinwinkel- und -weit
Seite 113 und 114:
M35: Röntgenkleinwinkel- und -weit
Seite 115 und 116:
M36: Röntgenkleinwinkelstreuung (S
Seite 117 und 118:
MethodenM37: Röntgenreflektivität
Seite 119 und 120:
M37: Röntgenreflektivität (XRR)de
Seite 121 und 122:
M38: SAXSess - Das Instrument für
Seite 123 und 124:
M39: Schwingungsspektroskopie (IR u
Seite 125 und 126:
MethodenM41: Thermische Desorptions
Seite 127 und 128:
Methodenstress [MPa]M42: Thermo-mec
Seite 129 und 130:
MethodenM43: Tribologische Untersuc
Seite 131 und 132:
M43: Tribologische UntersuchungenGr
Seite 133 und 134:
M44: Ultramikrotomie in der Materia
Seite 135 und 136:
M44: Ultramikrotomie in der Materia
Seite 137 und 138:
MethodenM45: Zeta-Potenzial-Messung
Seite 139:
M45: Zeta-Potenzial-MessungDie Mess
Seite 143 und 144:
LösungenL1: AES-Querschnitts-Analy
Seite 145 und 146:
LösungenL2: AFM-Untersuchungenzum
Seite 147 und 148:
L2: AFM-Untersuchungen an Pentazen-
Seite 149 und 150:
LösungenL3: Anwendungen der Positr
Seite 151 und 152:
L3: Anwendungen der Positronenannih
Seite 153:
L4: Ausscheidungscharakterisierung
Seite 156 und 157:
L5: Bestimmung der Ge-Konzentration
Seite 158 und 159:
LösungenL7: Charakterisierung von
Seite 160 und 161:
L7: Charakterisierung von Ausscheid
Seite 162 und 163:
LösungenL9: Der Effekt aromatische
Seite 164 und 165:
L9: Der Effekt aromatischer Quellun
Seite 166 und 167:
L10: Device Modification mittels Fo
Seite 168 und 169:
L11: Eigenspannungs-Charakterisieru
Seite 170 und 171:
LösungenL12: Elektrokinetische Mes
Seite 172 und 173:
L12: Elektrokinetische Messungen (Z
Seite 174 und 175:
L13: Epitaktisches Wachstum von org
Seite 176 und 177:
L14: EPR: Wie kommunizieren Elektro
Seite 178 und 179: L15: EPR: Photoinitiatoren für die
Seite 180 und 181: LösungenL16: Fehleranalyse von Pie
Seite 182 und 183: LösungenL17: FIB in der Mikro- und
Seite 184 und 185: LösungenL18: Haftfestigkeitsprüfu
Seite 186 und 187: LösungenL19: Hochtemperatur-Röntg
Seite 188 und 189: L19: Hochtemperatur-Röntgendiffrak
Seite 190 und 191: LösungenL21: HT-XRD - Spannungen u
Seite 192 und 193: L21: HT-XRD - Spannungen und Deform
Seite 194 und 195: L22: Li-Ionen-Batterien und alkalis
Seite 196 und 197: LösungenL23: Magnetische Eigenscha
Seite 198 und 199: LösungenL24: Mechanismus der Wirks
Seite 200 und 201: LösungenL25: Metallische Schichten
Seite 202 und 203: LösungenL26: Morphologie-Analyse v
Seite 204 und 205: LösungenL27: Nanoindentierungsvers
Seite 206 und 207: LösungenL28: Ortsaufgelöste Rönt
Seite 208 und 209: LösungenL29: Präparationstechnike
Seite 210 und 211: L29: Präparationstechniken in der
Seite 212 und 213: L30: Probenpräparation mittels Zwe
Seite 214 und 215: LösungenL31: Raman-Spektroskopie i
Seite 216 und 217: LösungenL32: Rastertunnelmikroskop
Seite 218 und 219: L33: Röntgenkleinwinkelstreuung an
Seite 220 und 221: L34: Sekundärionen-Massenspektrosk
Seite 222 und 223: L35: Synchrotronstrahlung in der in
Seite 224 und 225: L35: Synchrotronstrahlung in der in
Seite 226 und 227: L36: Nanostruktur von nichtstöchio
Seite 230 und 231: LösungenL38: Ultradünne organisch
Seite 232 und 233: L39: Untersuchung eines Defektes in
Seite 234 und 235: LösungenL40: Untersuchung moderner
Seite 236 und 237: L41: Untersuchung von Reaktionswell
Seite 238 und 239: LösungenL43: XPS-Untersuchungen an
Seite 241: Institute,Institutionen undFirmenHa
Seite 244 und 245: I1: Anton Paar GmbHFirmenstrukturGr
Seite 246 und 247: I2: Die österreichische SAXS-Stati
Seite 248 und 249: I3: Erich-Schmid-Institut für Mate
Seite 250 und 251: InstitutionenI4: FELMI-ZFE, TU Graz
Seite 252 und 253: I4: FELMI-ZFE, TU GrazPolymeren (in
Seite 254 und 255: I5: HECUS XRS GmbHKontaktHECUS XRS
Seite 256 und 257: I6: Institut für Chemie, KFU GrazD
Seite 258 und 259: I7: Institut für Chemische Prozess
Seite 260 und 261: InstitutionenI8: Institut für Fest
Seite 262 und 263: I8: Institut für Festkörperphysik
Seite 264 und 265: I9: Institut für Materialphysik, T
Seite 266 und 267: I10: Institut für Nanostrukturiert
Seite 268 und 269: InstitutionenI11: Institut für Phy
Seite 270 und 271: I11: Institut für Physik, Bereich
Seite 276 und 277: I13: Institut für Physikalische un
Seite 278 und 279:
I14: Laserzentrum Leoben, JRDie Bes
Seite 280 und 281:
InstitutionenI15: Materials Center
Seite 282 und 283:
I15: Materials Center Leoben Forsch
Seite 285 und 286:
K1Amenitsch Heinz, Dr.Institut für
Seite 287 und 288:
KontakteK11Grampp Günther, O. Univ
Seite 289 und 290:
KontakteK20Köstler Stefan, Dipl.-I
Seite 291 und 292:
KontakteK31Motz Christian, Dr.Öste
Seite 293 und 294:
KontakteK43Schöberl Thomas, Dr.Ös
Seite 295:
KontakteNetzwerk NanoanalytikSteier
Seite 298 und 299:
278Handbuch der Nanoanalytik Steier
Seite 300 und 301:
SchlagwörterSchlagwort Seite Schla
Seite 302 und 303:
Seite 304 und 305:
Seite 306 und 307:
Seite 308:
AutorenAutor Seite Autor SeiteNNESH
Seite 311:
Handbuch der Nanoanalytik Steiermar
Alle anzeigen

Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005

Sie wollen auch ein ePaper? Erhöhen Sie die Reichweite Ihrer Titel.

Template löschen?

Als Template speichern?