Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005

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I9: Institut für Materialphysik, TU GrazDiese Methode wird am Institut insbesonderezur Untersuchung von Grenzflächen in nanokristallinenMetallen und Legierungen, zum chemischempfindlichen Nachweis von Leerstellen in Legierungenund Verbindungshalbleitern sowie zur Untersuchungfreier Volumen in Polymeren eingesetzt.Für die Untersuchungen stehen moderne Positronlebensdauerspektrometermit hoher Zeitauflösungsowie hochauflösende Spektrometer zur ein- undzweidimensionalen Messung der Dopplerverbreiterungder Positron-Elektron-Annihilationsstrahlungzur Verfügung.Roland WürschumTechnische Universität GrazInstitut für MaterialphysikKontaktTechnische Universität GrazInstitut für MaterialphysikPetersgasse 168010 Graz, AustriaTel +43 316 873-84 81Fax +43 316 873-89 80imp@tugraz.atwww.imp.tugraz.atwww.imp.tugraz.at/AG_Nanostrukturierte_Materialien.htmInstitutsleiter: Univ.-Prof. Dr. Roland WürschumMethoden:Lösungen:M25 | M33L3Institute: —Kontakte:K51Defekte, atomare | Materialphysik | nanokristalline Materialien | PositronenannihilationRöntgenbeugung/diffraktion244Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005
InstitutionenI10: Das Institut fürNanostrukturierteMaterialien und Photonikder JOANNEUM RESEARCHForschungsgesellschaft mbHI10: Institut für Nanostrukturierte Materialien und Photonik, JRDas Institut für Nanostrukturierte Materialien undPhotonik liefert mit dem Design und der Herstellungneuartiger optoelektronischer und photonischerBauelemente und Systeme die Grundlagen für dieständig wachsende Palette technischer Anwendungenvon innovativen nanostrukturierten Materialien.Durch enge Kooperation mit der Industrie werdenUnternehmen aktiv bei der Einführung neuer Technologienunterstützt – von der Materialanalyse und-charakterisierung über Aufbringung und Strukturierung,die Herstellung von Labormustern, dieEntwicklung von Fertigungsprozessen bis hin zurIntegration in bestehende Produktionsanlagen.AngebotUntersuchung und Fehleranalyse vonMaterialien, Werkstoffen und ProduktenAnalytik, Charakterisierung und Strukturierungvon Materialien und WerkstoffenEntwicklung neuartiger Methoden und Prozessefür die Herstellung optoelektronischerBauelemente, einschließlich 3D-StrukturierungBeratung von Firmen und ForschungseinrichtungenKompetenzDas Institut für Nanostrukturierte Materialien undPhotonik bietet eine einzigartige Methodenvielfaltzur Analytik, Charakterisierung und Strukturierungvon Materialien. Im Know-how unserer Expertenverbinden sich Erkenntnisse aus der universitärenund außeruniversitären Spitzenforschung mitlangjähriger Erfahrung in der Auftragsforschung füreinheimische Unternehmen und Industriepartneraus Fernost. Die Palette der erfolgreichen Kooperationenund Forschungsprojekte reicht dabei vonder Optoelektronik bis zur Metallverarbeitung.VorteileAlle Dienstleistungen von der Analyse bis zurStrukturierung unter einem DachBreite Palette unterschiedlichster Analysemethodenvom Makrobereich bis zur molekularen/atomaren EbeneVerbesserte Marktchancen durch fundiertewissenschaftliche Unterstützung in der Entwicklungneuer, intelligenter ProdukteIndex Kontakte Institute Lösungen MethodenHandbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005245
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Zum Geleit4. Ausbildung von Nachwuc
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NANONET-StyriaNANONET-Styria -Die s
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Einführung in die NanoanalytikEine
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Einführung in die NanoanalytikOrts
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XIIHandbuch der Nanoanalytik Steier
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InhaltsverzeichnisM26: Präparation
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InhaltsverzeichnisL26: Morphologie-
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Methoden undInstrumentierungHandbuc
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M1: 3D-Atomsonde (3D APFIM)Notwendi
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M2: Analytische Elektronenmikroskop
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M3: Auger-Elektronenspektroskopie (
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M4: Dynamische Lichtstreuung (DLS)P
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M5: Elektrochemische MethodenDie ro
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M6: Elektrolytische PräparationDie
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MethodenM8: Elektronenenergieverlus
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M8: Elektronenenergieverlustspektro
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M9: EllipsometriePrinzip des Verfah
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M9: Ellipsometrieführen können, s
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MethodenM11: Energiefilterungs-Tran
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M11: Energiefilterungs-Transmission
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M12: EPR-Spektroskopie (ESR-Spektro
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MethodenM13: Focused Ion Beam (FIB)
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M13: Focused Ion Beam (FIB)Typische
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M14: HECUS System-3CharakteristikaH
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M15: Hoch-/Tieftemperatur-Pulverdif
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MethodenM16: Hochauflösende SQUID-
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MethodenM17: Hochauflösungs-TEM un
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M17: Hochauflösungs-TEM und Elektr
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M18: Hochverformung - Nanokristalli
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MethodenM19: Leitfähigkeits-Raster
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M19: Leitfähigkeits-Rasterkraftmik
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M20: Nanoindentierungeiner Probe. G
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M21: Negativkontrastierung als Diag
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M22: NMR-CIDNPFür die NMR- und CID
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M23: Oberflächenenergie von Beschi
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M24: Photoemissions-Elektronenmikro
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M25: PositronenannihilationMit den
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M26: Präparationstechniken in der
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M27: Rasterelektronenmikroskopie (R
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M28: Rasterkraftmikroskopie (AFM)Du
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MethodenM30: Rastertransmissionsele
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M30: Rastertransmissionselektronenm
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M31: Rastertunnel mikroskopie (RTM
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M32: Röntgen- und Ultraviolett-Pho
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M33: Röntgenbeugung - Linienprofil
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M34: Röntgenbeugung - Polfigurtech
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M35: Röntgenkleinwinkel- und -weit
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M35: Röntgenkleinwinkel- und -weit
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M36: Röntgenkleinwinkelstreuung (S
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MethodenM37: Röntgenreflektivität
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M37: Röntgenreflektivität (XRR)de
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M38: SAXSess - Das Instrument für
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M39: Schwingungsspektroskopie (IR u
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MethodenM41: Thermische Desorptions
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Methodenstress [MPa]M42: Thermo-mec
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MethodenM43: Tribologische Untersuc
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M43: Tribologische UntersuchungenGr
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M44: Ultramikrotomie in der Materia
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M44: Ultramikrotomie in der Materia
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MethodenM45: Zeta-Potenzial-Messung
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M45: Zeta-Potenzial-MessungDie Mess
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LösungenL1: AES-Querschnitts-Analy
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LösungenL2: AFM-Untersuchungenzum
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L2: AFM-Untersuchungen an Pentazen-
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LösungenL3: Anwendungen der Positr
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L3: Anwendungen der Positronenannih
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L4: Ausscheidungscharakterisierung
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L5: Bestimmung der Ge-Konzentration
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LösungenL7: Charakterisierung von
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L7: Charakterisierung von Ausscheid
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LösungenL9: Der Effekt aromatische
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L9: Der Effekt aromatischer Quellun
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L10: Device Modification mittels Fo
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L11: Eigenspannungs-Charakterisieru
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LösungenL12: Elektrokinetische Mes
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L12: Elektrokinetische Messungen (Z
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L13: Epitaktisches Wachstum von org
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L14: EPR: Wie kommunizieren Elektro
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L15: EPR: Photoinitiatoren für die
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LösungenL16: Fehleranalyse von Pie
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LösungenL17: FIB in der Mikro- und
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LösungenL18: Haftfestigkeitsprüfu
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LösungenL19: Hochtemperatur-Röntg
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L19: Hochtemperatur-Röntgendiffrak
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LösungenL21: HT-XRD - Spannungen u
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L21: HT-XRD - Spannungen und Deform
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L22: Li-Ionen-Batterien und alkalis
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LösungenL23: Magnetische Eigenscha
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LösungenL24: Mechanismus der Wirks
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LösungenL25: Metallische Schichten
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LösungenL26: Morphologie-Analyse v
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LösungenL27: Nanoindentierungsvers
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LösungenL28: Ortsaufgelöste Rönt
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LösungenL29: Präparationstechnike
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L29: Präparationstechniken in der
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L30: Probenpräparation mittels Zwe
Seite 214 und 215: LösungenL31: Raman-Spektroskopie i
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Seite 218 und 219: L33: Röntgenkleinwinkelstreuung an
Seite 220 und 221: L34: Sekundärionen-Massenspektrosk
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Seite 228 und 229: LösungenL37: Tiefenprofilanalyse e
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Seite 252 und 253: I4: FELMI-ZFE, TU GrazPolymeren (in
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Seite 258 und 259: I7: Institut für Chemische Prozess
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Seite 270 und 271: I11: Institut für Physik, Bereich
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