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Jahresbericht informatik 2009 - KIT – Fakultät für Informatik

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Die Institute der <strong>Fakultät</strong> und ihre Forschungsvorhaben<br />

Tagungsbände und Beiträge in<br />

Tagungsbänden:<br />

Abdi, A.; Tahoori, M. B.; Emamian, E.:<br />

Identification of Critical Molecules Via Fault<br />

Diagnosis Engineering. In: In International<br />

Conference of IEEE Engineering in Medicine<br />

and Biology Society. Minneapolis, USA, 3.-<br />

06.09.<strong>2009</strong>. S. 4898 - 4901<br />

Farazmand, N.; Tahoori, M. B.: Online<br />

Detection of Multiple Faults in Crossbar Nanoarchitectures<br />

Using Dual Rail Implementations.<br />

In: IEEE International Symposium on Design<br />

and Test of Defect-Tolerant Nanoscale<br />

Architectures (NANOARCH). San Francisco,<br />

USA, 30.-31.07.<strong>2009</strong><br />

Farazmand, N.; Tahoori, M. B.: Online<br />

Multiple Error Detection in Crossbar Nanoarchitectures.<br />

In: In IEEE International<br />

Conference on Computer Design (ICCD). Lake<br />

Tahoe, CA, USA, 4.-07.10.<strong>2009</strong><br />

Shazli, S.; Tahoori, M. B.: Modeling<br />

Availability and Performability in High<br />

Performance Information Systems. In: North<br />

Atlantic Test Workshop. Hopewell Junction,<br />

New York, U.S.A., 13.-15.05.<strong>2009</strong><br />

198<br />

Ausgewählte Veröffentlichungen des Forschungsbereiches:<br />

Shazli, S.; Tahoori, M. B.: Soft error rate computation<br />

in early design stages using boolean<br />

satisfiability. In: ACM Great Lakes Symposium<br />

on VLSI. Boston, USA, 10.-12.05.<strong>2009</strong>. S.<br />

101-104<br />

Shazli, S.; Tahoori, M. B.: Transient Error<br />

Detection and Recovery in Processor Pipelines.<br />

In: 24th IEEE International Symposium on<br />

Defect and Fault Tolerant in VLSI Systems<br />

(DFT). Chicago, U.S.A., 7.-09.10.<strong>2009</strong><br />

Tahoori, M. B.: BISM: built-in self map for<br />

hybrid crossbar nano-architectures. In: ACM<br />

Great Lakes Symposium on VLSI. Boston,<br />

U.S.A., 10.-12.05.<strong>2009</strong>. S. 153-156<br />

Beiträge in Zeitschriften:<br />

Tahoori, M. B.: Low Overhead Defect<br />

Tolerance in Crossbar Nano-architectures. In:<br />

ACM JOurnal of Emerging Technologies in<br />

Computing (JETC), Band Vol. 5, Heft 2, <strong>2009</strong><br />

Tahoori, M. B.; Asadi, H.; Mullins, B.; Kaeli,<br />

D.: Obtaining FPGA Soft Error Rate in High<br />

Performance Information Systems. In: Elsevier<br />

Journal of Microelectronics Reliability, Band<br />

Vol. 49, Heft 5, <strong>2009</strong>

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