„Entwicklung von Mess-und Berechnungsverfahren zur ... - BMU

Seite 101 von 187 des Abschlussberichtes "Entwicklung geeigneter Mess- und Berechnungsverfahren"
Richtcharakteristik [dBi]
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-90 -80 -70 -60 -50 -40 -30 -20 -10 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90
Winkel [Grad]
K 742 212 - 1855 MHz
Messung
M SI-File
Bild 3.4.8:
Vergleich des Abstrahldiagramms aus der Messung mit den Daten aus dem MSI-File
Es ist deutlich zu erkennen, dass die Amplitude der Abstrahlcharakteristik geringfügig
verändert sind. Diese Änderungen sind neben den produktionsbedingten Unterschieden auch
auf die Art und Weise der oben durchgeführten Messung (nicht im Fernfeld) zurückzuführen.
Auf der anderen Seite entsprechen die Positionen der Nebenzipfel (im Winkelbereich von –60
bis +60 Grad) aus dem gemessenen Abstrahlverhalten aber denen des Fernfeldes, so dass
einige generelle Aussagen getroffen werden können.
In Bild 3.4.9 sind die Messergebnisse für den vertikalen Schnitt der Abstrahlcharakteristik für
die Mobilfunkantenne mit der Bezeichnung K 742 212 für den Downlink des GSM 1800
Systems im Frequenzbereich von 1805 MHz bis 1880°MHz dargestellt.
Richtcharakteristik [dBi]
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Winkel [Grad]
K 742 212
1805 MHz
1855 MHz
1880 MHz
Bild 3.4.9:
Frequenzabhängigkeit der Mobilfunkantenne K 742 212 im GSM 1800-Frequenzbereich für
den Downlink
In Bild 3.4.9 ist eine Abhängigkeit der Abstrahlcharakteristik bezüglich der Frequenz zu
sehen: Die Amplitude ändert sich drastisch (bei einigen Winkeln (z.B. -55°) um mehr als