„Entwicklung von Mess-und Berechnungsverfahren zur ... - BMU

Seite 102 von 187 des Abschlussberichtes "Entwicklung geeigneter Mess- und Berechnungsverfahren"
10 dB). Ferner verschiebt sich die Lage der Nebenmaxima mit einhergehender geringfügiger
Änderung ihrer Amplitude. Es ist davon auszugehen, dass diese Änderungen in vergleichbarer
Weise auch im Fernfeld vorhanden sind.
Ein ähnliches Verhalten lässt sich auch im Frequenzbereich für den Downlink
(2110°MHz°bis°2170°MHz) im UMTS System erkennen. Im folgenden Bild sind die Ergebnisse
dargestellt.
20
10
K 742 212
2110 MHz
2140 MHz
2170 MHz
Richtcharakteristik [dBi]
0
-10
-20
-30
-40
-90 -80 -70 -60 -50 -40 -30 -20 -10 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90
Winkel [Grad]
Bild 3.4.10:
Frequenzabhängigkeit der Mobilfunkantenne K 742 212 im UMTS-Frequenzbereich für den
Downlink
Zusammenfassend kann demnach an dieser Stelle festgehalten werden, dass sich die Abstrahlcharakteristik
einer Mobilfunkantenne mit der Frequenz ändert. Dies betrifft primär die
Lage der Nebenzipfel und somit auch die Amplitude des Abstrahldiagramms. Als Konsequenz
ergibt sich hieraus, dass eine einzelne Berechnung mit einer vorgegebenen Richtcharakteristik
nur für die jeweilige Frequenz gültig ist. Da in der Regel über ein und dieselbe
Antenne viele unterschiedliche Frequenzen (vor allem bei GSM) abgestrahlt werden und sich
diese darüber hinaus noch nach einem Frequenzplanwechsel ändern können, müssten in der
Praxis viele Berechnungen durchgeführt werden, deren Ergebnisse zudem nur eine Momentaufnahme
darstellen würden.
Eine Möglichkeit, die Frequenzabhängigkeit dennoch zu berücksichtigen, besteht darin, wie
schon bei der Betrachtung des elektrischen Downtilts, eine Art Hüllkurve über die Abstrahldiagramme
aller Frequenzen in dem betreffenden Downlink zu legen. Leider sind Abstrahldiagramme
in Abhängigkeit der Frequenz aber nicht verfügbar, so dass jede einzelne Antenne
eigenständig vermessen werden müsste. Dieses erweist sich bei der Vielzahl der Antennen
und dem Aufwand als nicht praktikabel.
Eine weitere Möglichkeit, die Abhängigkeit dennoch zu berücksichtigen, besteht darin, die
Abstrahlcharakteristik auf den Wert des größten Nebenzipfels aufzufüllen (vgl. hierzu Ab-