Dokument 1.pdf (35.736 KB) - RWTH Aachen University
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5. Modellierung des stabilen Risswachstums<br />
Die numerische Last-Verformungskurve weist eine niedrigere Steifigkeit im elastischen Bereich als die<br />
Versuchskurve auf. Nach dem Erreichen des maximalen Wertes fällt die numerische Kraft mit<br />
steigender Aufweitung rapide ab, s. Bild 5.35. Beim Risswiderstandverhalten wird eine gute<br />
Übereinstimmung zwischen Numerik und Versuchsdaten für die Rissinitiierung und den<br />
Risswiderstand bis ∆a=0.3mm erzielt. Die Rissinitiierung aus der Schädigungssimulation ist mit<br />
Ji=61.4N/mm um ca. 7.6% höher als der experimentelle Wert Ji=57N/mm. Mit steigendem<br />
Risswachstum (∆a>0.3 mm) schreitet der Schädigungsprozess im numerischen 2D-Modell stärker als<br />
in der Realität fort, da die Veränderungen des Spannungszustandes mit dem 2D Modell nicht mehr<br />
genau beschrieben werden können. Allerdings zeigt der experimentell Risswiderstand, der mit der<br />
Mehrprobenmethode bestimmt wird, bei größeren Risslängen starke Streuung.<br />
Kraft F [kN]<br />
25<br />
20<br />
15<br />
10<br />
5<br />
0<br />
Exp.<br />
GTN 2D-01 D<br />
RQT701-15I, HLSV<br />
0.0 0.2 0.4 0.6 0.8<br />
Aufweitung U v [mm]<br />
J-Integral [N/mm]<br />
250<br />
200<br />
150<br />
100<br />
50<br />
0<br />
Exp.<br />
GTN 2D-01 D<br />
RQT701-15I, HLSV<br />
0.0 0.5 1.0 1.5 2.0<br />
Risswachstum ∆a [mm]<br />
Bild 5.35: Last-Aufweitungs- und die Risswiderstandskurve für RQT701-15I, HLSV, Modell D<br />
Die Bruchflächen für den GW und das SG der Stähle RQT701-15 und RQT701-20 zeigen eine große<br />
Ähnlichkeit bei der Morphologie und der Struktur der Waben, s. Bild 5.33 und Bild 5.36. Die<br />
Bruchfläche für den GW besteht zum größten Teil aus primären Hohlräumen mit Größen zwischen 10<br />
und 30µm. Diese Hohlräume grenzen entweder direkt aneinander oder sind über die sekundären<br />
Hohlräume miteinander verbunden. Die Bruchfläche für das SG enthält keine primären Hohlräume<br />
sondern setzt sich aus gleichmäßig verteilten sekundären Hohlräumen mit Größen zwischen 2 und 8µm<br />
zusammen.<br />
50 µm 50 µm<br />
Bild 5.36: Bruchflächen der 0.8C(T) Proben für RQT701-20F, GW (links) und RQT701-20I, SG<br />
(rechts)<br />
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