Dokument 1.pdf (35.736 KB) - RWTH Aachen University
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6. Analyse des Bruchverhaltens in der Tieflage und im Übergangsbereich<br />
zunächst die Streckgrenze für die gesuchte Temperatur T nach folgender Gleichung abgeschätzt<br />
[FIT06]:<br />
mit T in [°C] und Rel in [MPa]<br />
( R ) + MPa −189MPa<br />
= el<br />
(6.4)<br />
1.<br />
8<br />
491+<br />
T<br />
° C<br />
Rel RT<br />
Anschließend wird die Fließkurve durch die Verschiebung der Spannungswerte der Fließkurve bei RT<br />
um die Differenz ∆R=Rel-(Rel)RT der Streckgrenzen erzeugt. Somit weist sie das gleiche<br />
Verfestigungsverhalten wie die Fließkurve bei RT. Für den Stahl RQT701-15I werden die Fließkurven<br />
sowohl für den GW als auch für das SG experimentell in Abhängigkeit von der Temperatur ermittelt.<br />
6.2.2 Fraktographische Untersuchungen<br />
Das Ziel der fraktographischen Untersuchungen ist die Bestimmung der Spaltbruchursprünge mit Hilfe<br />
der REM. Zu diesem Zweck werden die Bruchflächen auf die potentiellen Stellen der<br />
Spaltbruchinitiierung systematisch durch sukzessiv steigende Vergrößerung der<br />
Bruchflächenausschnitte analysiert. Dabei werden die typischen sternförmigen Bruchverlaufslinien<br />
zurückverfolgt. Da die gesuchten Stellen nicht immer eindeutig zu identifizieren sind, ist die<br />
Betrachtung nur einer Bruchfläche häufig nicht ausreichend. Deshalb wird in [BOU05] empfohlen,<br />
zusätzlich auch die zugehörige spiegelverkehrte Bruchfläche auf die Spaltbruchursprünge zu<br />
untersuchen. Die potentielle Stelle wird erst dann als eindeutig bezeichnet wenn sie auch an der<br />
zweiten Bruchfläche detektiert werden kann. In Bild 6.19 werden als Beispiel die stufenweise<br />
vergrößerte REM Bilder der Bruchfläche für die Bestimmung des Ursprungs am Beispiel der 0.5C(T)<br />
Probe aus dem homogenen GW des RQT701-15I demonstriert. Für jede identifizierte Stelle der<br />
Spaltbruchauslösung wird der Abstand xc zur Ermüdungsrissfront und der Abstand zc zur Probenmitte<br />
in Dickenrichtung ausgemessen.<br />
10 5<br />
1 mm 500 µm<br />
20:1<br />
100:1<br />
139