04.10.2013 Aufrufe

Dokument 1.pdf (35.736 KB) - RWTH Aachen University

Dokument 1.pdf (35.736 KB) - RWTH Aachen University

Dokument 1.pdf (35.736 KB) - RWTH Aachen University

MEHR ANZEIGEN
WENIGER ANZEIGEN

Erfolgreiche ePaper selbst erstellen

Machen Sie aus Ihren PDF Publikationen ein blätterbares Flipbook mit unserer einzigartigen Google optimierten e-Paper Software.

6. Analyse des Bruchverhaltens in der Tieflage und im Übergangsbereich<br />

Größen gegeneinander wird ein linearer Zusammenhang zwischen dem Logarithmus der plastischen<br />

Vergleichsdehnung und der Mehrachsigkeit festgestellt. Dieser Zusammenhang kann durch eine<br />

Grenzgerade erfasst werden, die auch als Versagensgrenzkurve bezeichnet wird. Mit der Annäherung<br />

an diese Grenzkurve steigt die Wahrscheinlichkeit für die Spaltbruchauslösung an. Bei einer<br />

hinreichend kleinen Entfernung von der Kurve oder deren Erreichen tritt schließlich das Versagen auf.<br />

Mit zunehmender Belastung wandert der mechanische Zustand, das durch Mehrachsigkeit und<br />

plastische Vergleichsdehnung gegeben ist, entlang dieser Kurve, die unabhängig von der Temperatur<br />

und der Geometrie nicht überschritten werden kann.<br />

Der Gleichungstyp lnεv pl =ah+b (a und b Parameter) der hier definierten Grenzkurven für die<br />

Entstehung der Mikrorisse entspricht dem Gleichungstyp der Grenzkurven für die duktile<br />

Rissinitiierung, der sog. Schädigungskurven [HOL93], [SCH97], [ARN97]. Diese Kurven wurden<br />

bereits in [HAN76] als „Failure-Locus Curves“ vorgestellt. Der Unterschied zwischen den<br />

Grenzkurven für Spaltbruch und duktilen Bruch besteht darin, dass die Schädigungskurven durch die<br />

Auswertung des mechanischen Zustandes bei der duktilen Rissinitiierung in einer festgelegten<br />

Entfernung von der Rissspitze bestimmt werden. Diese Entfernung ist gleich der „mikrostrukturellen<br />

Länge“ lc, s. Kap. 2. Außerdem erfolgt die Ermittlung der Schädigungskurve nur bei einer Temperatur.<br />

Das erste Bruchkriterium für die Entstehung von Mikrorissen ist erfüllt, wenn sich der mechanische<br />

Zustand in einem definierten Abstand von der Grenzkurve befindet. Damit die Instabilität der<br />

Mikrosrisse und die anschließende Spaltbruchauslösung stattfinden kann, muss auch das zweite<br />

Bruchkriterium erfüllt werden, das ein hinreichend hohes Niveau der maximalen Hauptspannung<br />

erfordert.<br />

Dieses zweiparametrige Bruchkriterium wird zunächst anhand der Ergebnisse der bruchmechanischen<br />

Prüfungen an SE(B)13x26 Proben mit der HLSV des Stahls EH36-15I überprüft. Um den Einfluss der<br />

Prüftemperatur auf die Bestimmung der Grenzkurve zu untersuchen, werden die lokalen Feldgrößen<br />

bei 5 unterschiedlichen Temperaturen (-100°C, -60°C, -40°C, -20°C und 0°C) für SE(B) Proben mit<br />

tiefem Riss (a/W=0.5) ausgewertet. Für die Analyse des Einflusses der Mehrachsigkeit werden<br />

zusätzlich die Ergebnisse herangezogen, die sich für die SE(B) Proben mit kurzem Riss (a/W=0.2) und<br />

einer Temperatur von -100°C ergeben. Die Ergebnisse der Auswertung der lokalen mechanischen<br />

Feldgrößen unter Anwendung des zweiparametrigem Bruchkriteriums sind in Bild 6.30 dargestellt.<br />

Da die maximalen Hauptnormalspannungen σI f bei jeweiliger Prüftemperatur stark streuen, werden zur<br />

Festlegung der Temperaturabhängigkeit und des erforderlichen Mindestniveaus für die<br />

Mikrorissinstabilität die Mittelwerte der Spannungen betrachtet. Mit der Zunahme der Temperatur von<br />

-100°C auf -60°C fällt der mittlere σI f Wert für die Proben mit tiefem Riss um ca. 400MPa ab. Im<br />

Bereich zwischen -60°C und -20°C wird ein fast konstantes Spannungsniveau von ca. 2340MPa<br />

festgestellt. Bei der Temperatur von 0°C sinken die Mittelwerte der maximalen<br />

Hauptnormalspannungen auf ein Wert von 2080MPa ab. Aufgrund der Streuung der Messwerte und<br />

unzureichender Anzahl der geprüften Proben bei jeweiliger Temperatur kann aber keine quantitative<br />

Abhängigkeit der maximalen Hauptnormalspannungen von der Temperatur abgeleitet werden. Der σI f<br />

Wert, der sich für die SE(B) Proben mit kurzem Riss bei -100°C ergibt, ist um ca. 280MPa niedriger<br />

als entsprechender Wert für die Proben mit tiefem Riss, wobei das Streuband mit einem<br />

Spannungsunterschied von 615MPa für Kurzrissproben um 350MPa höher als für Proben mit tiefem<br />

147

Hurra! Ihre Datei wurde hochgeladen und ist bereit für die Veröffentlichung.

Erfolgreich gespeichert!

Leider ist etwas schief gelaufen!