Dokument 1.pdf (35.736 KB) - RWTH Aachen University
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5. Modellierung des stabilen Risswachstums<br />
∆a=0.5 und 1.2mm stattfindet, kann an dem leichten Anstieg des Risswiderstandes bei y=0.5mm<br />
festgestellt werden, s. Bild 5.66 (b). Mit dem wachsenden Riss im GW an der Schmelzlinie, verringern<br />
sich die Unterschiede im Risswiderstandsniveau zwischen y=0.5 und y=0mm. Liegt der Anfangsriss<br />
genau in der Mitte der Schweißnaht (y=1.6mm), so entwickelt sich die kleinste Mehrachsigkeit in GW<br />
im Vergleich zu den anderen Anfangsrisslagen aufgrund des größten Abstandes zur Schmelzlinie. Bei<br />
dieser Risslage, bei der kein Rissauswandern auftritt, wird für ∆a>0.5mm das höchste<br />
Risswiderstandsniveau in Vergleich zu y=0.5 und y=0mm bestimmt, da die kontinuierliche<br />
Entwicklung der plastischen Zonen im GW zur Entlastung des Spannungszustandes an der aktuellen<br />
Rissspitze im SG beiträgt. Dahingegen findet das stabile Risswachstum bei y=0.5 und 0mm nach dem<br />
Rissauswandern im GW statt, ohne dass dabei die Rissspitze entlastet wird.<br />
J-Integral [N/mm]<br />
118<br />
1000<br />
900<br />
800<br />
700<br />
600<br />
500<br />
400<br />
300<br />
200<br />
Rissinitiierung, y=0.25mm<br />
DE(T)<br />
C(T)<br />
SE(B)<br />
C(T)<br />
SE(B)<br />
DE(T)<br />
100<br />
0<br />
(a)<br />
0.00 0.05 0.10 0.15 0.20 0.25 0.30<br />
Risswachstum ∆a [mm]<br />
J-Integral [N/mm]<br />
1400<br />
1200<br />
1000<br />
800<br />
600<br />
400<br />
200<br />
0<br />
GW<br />
HLSV y=0<br />
HLSV y=0.5<br />
HLSV y=1.6<br />
C(T)<br />
(b)<br />
0.0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 1.2 1.4 1.6 1.8 2.0<br />
Risswachstum ∆a [mm]<br />
Bild 5.66: Der Einfluss der Probengeometrie auf die Rissinitiierung (a) und der Anfangsrisslage auf<br />
den Risswiderstand (b)<br />
5.4 Schlussfolgerungen<br />
Der Schwerpunkt der in diesem Kapitel erfolgten Untersuchungen liegt in der Bestimmung des<br />
duktilen Bruchverhaltens der hybridlasergeschweißten Proben und der Bewertung des GTN-<br />
Schädigungsmodells bezüglich der Beschreibung dieses Verhaltens.<br />
Ausgehend von der in Kap. 4 ermittelten Anfangsporosität f0 und den Parametern für die Entstehung<br />
von sekundären Hohlräumen fn, sn und εn werden Berechnungen an den Einheitszellen zur Bestimmung<br />
der kritischen Porosität fc durchgeführt. Die Ergebnisse aus diesen Berechnungen zeigen, dass die<br />
kritische Porosität fc keine Abhängigkeit von der Mehrachsigkeit des Spannungszustandes aufweist,<br />
wenn das duktile Schädigungsverhalten des untersuchten Stahls (in diesem Fall der Stahl S355) in<br />
erster Linie durch die Bildung von primären Hohlräumen zu beschreiben ist. Diese primären<br />
Hohlräume bilden sich als Folge des Ablösens der größeren nicht-metallischen Einschlüsse aus der<br />
Matrix, deren Gehalt über die Anfangsporosität quantifiziert werden kann. Auf der anderen Seite hängt<br />
die kritische Porosität fc von der Mehrachsigkeit deutlich ab, wenn an dem duktilen<br />
Schädigungsprozess neben der primären auch die sekundären Hohlräume wesentlich beteiligt sind. Aus<br />
diesen Gründen werden für die Stähle EH36-15, EH36-20, RQT701-15 und RQT701-20 Tabellen