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2 Charakterisierungsmethoden 15<br />

bezeichnet. Der mittlere Abstand der Probenkomponente von der<br />

Akkumulationswand wird durch die effektive Schichtdicke l beschrieben.<br />

D<br />

l = (2.20)<br />

U<br />

Um auch das Konzentrationsprofil in der AFFFF richtig zu beschreiben, müssen in<br />

Gleichung 2.19 zusätzliche Korrekturterme eingeführt werden (w ist die Kanalhöhe)<br />

[47].<br />

() ⎟ 2 3<br />

⎛ − x U ⎡ x x ⎤⎞<br />

c x = c ⎜ 0 exp<br />

⎜ ⎢1−<br />

+ 2 3 ⎥<br />

(2.21)<br />

⎝ D ⎣ w 2w<br />

⎦⎠<br />

Diese sind jedoch in der Praxis in der Regel nicht relevant.<br />

Mit der Stokes-Einstein-Beziehung für den Diffusionskoeffizienten (Gleichung<br />

2.15 mit dem Reibungskoeffizienten f = 6πηR) und dem Zusammenhang zwischen<br />

der Driftgeschwindigkeit |U| und der auf die Moleküle wirkenden Kraft F<br />

F<br />

U = (2.22)<br />

f<br />

erhält man folgende Beziehung zwischen der effektiven Schichtdicke und der Kraft<br />

kT<br />

l = . (2.23)<br />

F<br />

Unter Berücksichtigung der Kanalhöhe kann man l in den dimensionslosen<br />

Retentionsparameter λ überführen<br />

Das Retentionsverhältnis R ist definiert als<br />

l kT<br />

λ = = . (2.24)<br />

w Fw<br />

t<br />

v<br />

0 V0<br />

s<br />

R = = = , (2.25)<br />

t V v<br />

R<br />

R<br />

() x

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