Callister_-_Engenharia_e_Cincia_dos_Materiais_ptg_ ... - Ufrgs

comprimentos de onda da ordem de 0,003 nm (3 pm). Altas ampliações e poderes de resolução
destes microscópios são consequências de pequenos comprimentos de onda dos feixes de elétrons;
de fato, características atômicas podem ser resolvidas. O feixe de elétron é focado e a imagem é
formada com lentes magnéticas; por outro lado a geometria dos componentes do microscópio é
essencialmente a mesma dos sistemas óticos. Modos de operação tanto de transmissão quanto de
reflexão são possíveis para microscópios eletrônicos.
Microscopia Eletrônica de Tranmissão. A imagem vista com um microscópio
eletrônico de transmissão (MET ou TEM, em inglês) é formada por um feixe de elétrons que
passa através da amostra. Detalhes das características microestruturais internas são acessíveis para
observação; contrastes na imagem são produzidos por diferenças no espalhamento ou difração do
feixe produzido entre os vários elementos da microestrutura ou do defeito. De vez que materiais
sólidos são altamente absorvedos para os feixes eletrônicos, uma amostra para ser examinada deve
ser preparada na forma de uma lâmina muito fina; isto assegura transmissão através da amostra de
uma fração do feixe incidente. O feixe transmitido é projetado sobre uma tela fluorescente ou um
filme fotográfico de maneira que a imagem possa ser vista. Ampliações de aproximadamente
1000000x são possíveis com microscopia eletrônica de transmissão,que é frequentemente utilizada
no estudo de discordâncias.
Microscopia Eletrônica de Transmissão. Uma inovação mais recente, tendo provado
ser uma extremamente útil ferramenta de investigação (pesquisa), é o microscópio eletrônico de
varredura (MEV ou SEM, em inglês). A superfície de uma amostra a ser examinada é varrida
com um feixe de elétron e o feixe de elétron refletido (ou retro-espalhado) é coletado e depois
exibido na mesma taxa de varredura sobre um tubo de raio catódico (similar a uma tela de TV). A
imagem que aparece na tela, e que pode ser fotografada, representa as características superficiais
da amostra. A superfície pode ou não pode ser polida e atacada, mas deve ser eletricamente
condutiva; um muito fino revestimento metálico deve ser aplicado a materiais não condutivos.
Ampliações variando de 10 a mais do que 50000 diâmetros são possíveis, do mesmo modo que são
possíveis grandes profundidades de campo. Equipamento acessório permite análise qualitativa e
semiquantitativa da composição elementar de muito localizadas áreas de superfície.
Exame microscópico é uma ferramenta extremamente útil no estudo e caracterizaçãode
materiais. Isto se tornará evidente nos subsequentes capítulos que correlacionam a microestrutura
com as várias características e propriedades. Exame de microestrutura é também útil para
determinar o modo da fratura mecânica, para prever as propriedades mecânicas de ligas, para
mostrar se uma liga foi corretamente tratada termicamente e também para projetar ligas com novas
combinações de propriedades.
4.10 - DETERMINAÇÃO DE TAMANHO DE GRÃO
O tamanho de grào é às vezes determinado quando as propriedades de um material policristalino
estiver sendo considerado. Neste sentido, existe um número de técnicas pelas quais tamanho é
especificado em termos de volume médio de grão, diâmetro médio de grão ou área média de grão.
Tamanho de grão pode ser estimado pelo uso de um método do intercepto, descrito a seguir. Linhas