Technische Optik in der Praxis

Abb. 2.14. Twyman-Green-Interferometer
2.2 Überlagerung von Wellen 51
Kompensationssystem ersetzt, die zusammen den parallelen Teilstrahl in sich
zurückreflektieren. Ein Abbildungsfehler des zu testenden Systems erzeugt
dann eine Abweichung des Interferogramms vom idealen Zustand. Im praktischen
Einsatz wird dieses Interferometer durch Verkippen eines der Spiegel
so justiert, daß das fehlerfreie Interferogramm aus geraden Interferenzstreifen
gleichen Abstands besteht, weil dadurch die Unsicherheit bezüglich des
Vorzeichens von Fehlern leichter zu beseitigen ist.
Bei den bisher diskutierten Interferometern sind die beiden Teilstrahlen
leicht zu unterscheiden, weil sie geometrisch getrennten Wegen folgen. Es gibt
aber eine Vielzahl von Interferometertypen, bei denen dies nicht der Fall ist.
Sie zeichnen sich häufig durch eine besonders einfache und robuste Bauweise
aus.
Das einfachste Beispiel für ein derartiges Interferometer ist das in Abb.
2.15 gezeigte Fizeau-Interferometer, welches z. B. zur Bestimmung der Parallelität
von optisch wirksamen Flächen eingesetzt wird. Ein aufgeweiteter
Strahl fällt auf die zu untersuchende Platte; an deren Vorder- und auch
Rückfläche wird ein geringer Teil der Strahlung (typisch 4%) reflektiert. Diese
beiden Teilstrahlen interferieren miteinander. Die Interferenzwelle wird nur
deshalb an dem Strahlteiler ST umgelenkt, um sie zu einem Beobachtungs-
Abb. 2.15. Fizeau-Interferometer