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Università degli Studi di Ferrara

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In<strong>di</strong>ce delle tabelle 253<br />

Fig. 4.7: alcuni esempi <strong>di</strong> lastrine rinvenute nel sito <strong>di</strong> Guado San Nicola (foto<br />

C. Peretto). Pag. 93<br />

Fig. 4.8: numero <strong>di</strong> manufatti con errori rinvenuti tra i coor<strong>di</strong>nati e i non<br />

coor<strong>di</strong>nati. pag. 97<br />

Fig. 4.9: sintesi della relazione tra errori <strong>di</strong> scheggiatura e meto<strong>di</strong> <strong>di</strong> débitage. pag. 97<br />

Fig. 4.10: numero <strong>di</strong> manufatti con errori rinvenuti per ogni US nei coor<strong>di</strong>nati e<br />

nei non coor<strong>di</strong>nati. pag. 98<br />

Fig. 4.11: sintesi <strong>degli</strong> errori causati da una cattiva gestione del colpo rispetto<br />

al totale dei prodotti su cui sono stati in<strong>di</strong>viduati (schegge e nuclei<br />

coor<strong>di</strong>nati). pag. 98<br />

Fig. 4.12: USB, Q N14 n.296; nucleo S.S.D.A. che presenta negativi <strong>di</strong> piccole<br />

schegge riflesse e con fratture nette; si nota anche lo smussamento<br />

della cornice a causa dei colpi reiterati. pag. 99<br />

Fig. 4.13: a) USB Q M14 n. 276; b) USB, Q N14 n.286. Due esempi <strong>di</strong> schegge<br />

che presentano una frattura netta contemporanea al débitage.<br />

Fig. 4.14: USB, Q L14 n.209; nucleo S.S.D.A. su cui si osserva il negativo <strong>di</strong> una<br />

scheggia con bulbo <strong>di</strong>edro e fratturata <strong>di</strong> netto.<br />

Fig. 4.15: USB, Q N14 n295; scheggia kombewa riflessa.<br />

Fig. 4.16: USB, Q Q13 n.86; scheggia riflessa, con una leggera inflessione<br />

finale, sulla cui faccia dorsale si notano i negativi <strong>di</strong> piccole schegge<br />

riflesse dovute a colpi reiterati.<br />

Fig. 4.17: USB*C, Q Q12 n.119; scheggia retroflessa.<br />

pag. 99<br />

pag. 100<br />

pag. 100<br />

pag. 100<br />

pag. 101<br />

Fig. 4.18: USB*C, Q P13 n.25; scheggia debordante prossimale (“lipped flake”). pag. 101<br />

Fig. 4.19: USB, Q M13 n.374: scheggia debordante <strong>di</strong>stale.<br />

Fig. 4.20: USB*C, Q Q13 n.72; scheggia con frattura a languette.<br />

Fig. 4.21: sintesi relativa al tipo <strong>di</strong> frattura nei manufatti selezionati (a) e, in<br />

dettaglio (b), la frequenza del tipo <strong>di</strong> frammento.<br />

Fig. 4.22: USB, Q I14 n.166; scheggia con bulbo <strong>di</strong>edro e onde marcate; sulla<br />

faccia dorsale si notano i segni dei colpi reiterati.<br />

pag. 101<br />

pag. 102<br />

pag. 102<br />

pag. 103<br />

Fig. 4.23: schegge con doppi bulbi. a) USB*C, Q Q12 n.116. b) USC, Q N16 n.22. pag. 103<br />

Fig. 4.24: sintesi <strong>degli</strong> errori causati da colpi reiterati rispetto al totale dei<br />

prodotti su cui sono stati in<strong>di</strong>viduati (schegge e nuclei).<br />

pag. 103

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