21.12.2012 Aufrufe

Klassifikation von Mustern

Klassifikation von Mustern

Klassifikation von Mustern

MEHR ANZEIGEN
WENIGER ANZEIGEN

Sie wollen auch ein ePaper? Erhöhen Sie die Reichweite Ihrer Titel.

YUMPU macht aus Druck-PDFs automatisch weboptimierte ePaper, die Google liebt.

3.11. LITERATURHINWEISE 279<br />

Kompromiss zwischen Rechenzeit und Merkmalsgüte bezeichnet.<br />

Merkmalsauswahl durch Messung der Merkmalsähnlichkeit wird in [Mitra et al., 2002] betrachtet.<br />

Invarianten<br />

Eine klassische Arbeit ist die über Momenteninvarianten [Hu, 1962], der weitere zu diesem<br />

Thema folgten, in denen Momente mit unterschiedlichen Invarianzeigenschaften abgeleitet<br />

werden, [Abu-Mostafa und Psaltis, 1984, Belkasim et al., 1991, Dudani et al., 1977,<br />

Flusser und Suk, 1993, Flusser et al., 2003, Kan und Srinath, 2002, Khotanzad, 1990, Li, 1991,<br />

Mukundan und Ramakrishnan, 1995, Prokop und Reeves, 1992, Sadjadi und Hall, 1980,<br />

Teague, 1980, Wong und Hall, 1978, Yang und Albregtsen, 1994, Zhu et al., 2002]. Dazu<br />

kommen Arbeiten zur Rotationsinvarianz [Choi und Kim, 2002, Tsai und Tsai, 2002], zu differenziellen<br />

Invarianten [Rothwell et al., 1992], kombinierten Invarianten [Rothwell et al., 1992],<br />

affin invarianten FOURIER- [Abter et al., 1990, Oirrak et al., 2002, Oirrak et al., 2003],<br />

Polynom- [Keren et al., 1994] und Waveletkoeffizienten [Khalil und Bayoumi, 2001,<br />

Khalil und Bayoumi, 2002] sowie weitere affin invariante Merkmale [Matsakis et al., 2004,<br />

Petrou und Kadyrov, 2004], spektralen Invarianten [Chandran et al., 1997, Götze et al., 1999,<br />

Lai et al., 2001] und anderen [Besl und Jain, 1986, Burkhardt, 1979, Burel und Hénocq, 1995,<br />

Keysers et al., 2000, Keysers et al., 2004, Mundy und Zisserman, 1992, Suk und Flusser, 1996,<br />

Schulz-Mirbach, 1994, Schulz-Mirbach, 1995, Weiss, 1993, Zhang und Tan, 2002].<br />

Symbole<br />

Die Beispiele für Grundsymbole <strong>von</strong> bildhaften <strong>Mustern</strong> lehnen sich an<br />

[Blum und Nagel, 1978, Freeman, 1978, Ledley, 1964, Ledley, 1972, Moayer und Fu, 1975,<br />

Moayer und Fu, 1976, Mori et al., 1970, Sheinberg, 1970, Shelman, 1972, Stallings, 1972]<br />

an, die für wellenförmige an [Rivoira und Torasso, 1978, Stockman, 1978]. Der Konturverfolgungsalgorithmus<br />

in Abschnitt 3.10.2 geht auf [Niemann, 1974] zurück,<br />

die Fallunterscheidung mit (3.10.15) wird in [Niemann, 1974] (Abschnitt 2.2.2) gezeigt.<br />

Ein verbesserter Algorithmus zur Konturverfolgung wird in [Ren et al., 2002]<br />

vorgestellt. Die Algorithmen zur stückweise linearen Approximation wurden in<br />

[Bley, 1982, Niemann, 1981, Pavlidis und Horowitz, 1974, Ramer, 1972] entwickelt.<br />

Die Zusammenfassung <strong>von</strong> Geradenstücken zu komplexeren Formelementen wird<br />

in [Pavlidis und Ali, 1979] durchgeführt. Die Berechnung <strong>von</strong> Krümmungen bei diskreten <strong>Mustern</strong><br />

wird in [Rosenfeld und Johnston, 1973, Rosenfeld, 1975, Bennett und Mac Donald, 1975]<br />

behandelt. Eine experimentelle Untersuchung verschiedener Krümmungsdefinitionen enthält<br />

[Harbeck, 1996].

Hurra! Ihre Datei wurde hochgeladen und ist bereit für die Veröffentlichung.

Erfolgreich gespeichert!

Leider ist etwas schief gelaufen!