08.08.2013 Views

Struttura della Materia - INFN Napoli

Struttura della Materia - INFN Napoli

Struttura della Materia - INFN Napoli

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

<strong>Struttura</strong> <strong>della</strong> <strong>Materia</strong> 205<br />

b. labasedeveaverealmeno un elemento di simmetria non posseduto da un<br />

qualsiasi reticolo che si ottiene da quello effettivo per una distorsione infinitesima<br />

cheneabbassalasimmetria.<br />

Per applicare queste regole occorre organizzare i sette sistemi cristallini nella<br />

gerarchia mostrata nello schema in cui ogni sistema cristallino è un caso particolare<br />

di quello che è sotto di esso<br />

Terminiamo quì la nostra analisi limitandoci a dire che è possibile giustificare<br />

(con l’aiuto di molta geometria e pazienza) un numero di gruppi spaziali per i<br />

cristalli pari a 230.<br />

4.2 Diffrazione dei raggi X. Reticolo reciproco<br />

Lo strumento ideale per studiare le strutture cristalline è la diffrazione dei raggi<br />

X sebbene siano utili anche quella di elettroni lenti e di neutroni termici. Gli<br />

elettroni penetrano poco nei cristalli e sono usati prevalentemente nell’analisi di<br />

film sottili e delle superfici dei cristalli. Vogliamo studiare lo scattering coerente<br />

di un solido ordinato in cui i centri di scattering identici sono distrubuiti nello<br />

spazio in un reticolo tridimensionale contribuendo tutti in eguale misura all’onda<br />

diffusa.<br />

La teoria fenomenologica che descrive la diffrazione è quella di Bragg. Il<br />

cristallo viene considerato come costituito da piani reticolari. I raggi X incidono<br />

su questi piani e θ è l’angolo di incidenza. Bragg fece l’ipotesi che ciascun piano<br />

riflettesse parzialmente i raggi incidenti. Se d è la distanza tra una coppia di<br />

piani la condizione per avere interferenza costruttiva tra i raggi riflessi dai due<br />

piani è<br />

2d sin θ = nλ<br />

dove λ è la lunghezza d’onda e n è un numero intero.<br />

Per assegnati valori di λ edid l’interferenza costruttiva compare solo nelle<br />

direzioni specificate da questa relazione. Nel metodo di Laue un singolo cristallo<br />

è tenuto fermo in un fascio di raggi X di spettro continuo. Il cristallo seleziona e

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!