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Fisica General Burbano

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MUESTRA PARA EXAMEN. PROHIBIDA SU REPRODUCCIÓN. COPYRIGHT EDITORIAL TÉBAR<br />

esos enlaces (Fig. XXIX-11). Por otra parte, el nivel de energía del estado fundamental de este<br />

electrón se encuentra por debajo de la banda de conducción y muy próximo a ella, de forma que<br />

a cero grados kelvin el electrón se encontrará ligado a su átomo, pero al aumentar la temperatura<br />

pasará fácilmente a la banda de conducción, posibilitando así la conducción eléctrica, sin que se<br />

hayan formado pares electrón-hueco, ya que no se ha roto ningún enlace. A estas impurezas que<br />

ceden electrones se les denomina IMPUREZAS DONADORAS, y a los niveles de energía que introducen,<br />

NIVELES DONADORES (Fig. XXIX-13).<br />

Si se aumenta lo suficiente la temperatura empezarán a romperse enlaces y a formarse, por<br />

tanto, pares electrón-hueco. Ahora la conducción se verificará mediante ambos tipos de portadores<br />

de carga, pero la concentración de electrones de conducción en el semiconductor N será mayor<br />

que la de huecos; los electrones son los portadores mayoritarios y los huecos los minoritarios.<br />

Puesto que las impurezas están presentes en cantidades siempre muy pequeñas, a temperaturas<br />

elevadas el número de pares de portadores formados puede llegar a ser mucho mayor que el número<br />

de átomos de impurezas y el semiconductor se comportará como intrínseco.<br />

En los SEMICONDUCTORES P las impurezas son átomos con tres electrones de valencia que al intercalarse<br />

en la red cristalina dejan un enlace por átomo sin completar (Fig. XXIX-12). Esto da<br />

como resultado la aparición de niveles energéticos próximos a la banda de valencia, que se denominan<br />

NIVELES ACEPTORES (Fig. XXIX-13).<br />

A cero grados kelvin estos niveles están vacíos, pero un aumento de temperatura provocará la<br />

promoción hasta ellos de electrones de la banda de valencia. Los electrones promocionados pasan<br />

a formar parte de un enlace por lo que no contribuyen a la conducción, sin embargo, han dejado<br />

tras de sí huecos que sí que lo hacen. Aunque la temperatura sea suficiente para la formación de<br />

pares electrón-hueco, un semiconductor P, con impurezas aceptoras, conduce principalmente por<br />

huecos, que son en este caso los portadores mayoritarios. Al igual que ocurre con los semiconductores<br />

N, a temperatura elevada la conducción intrínseca llega a enmascarar a la extrínseca y el semiconductor<br />

se comporta como si fuese puro.<br />

Se verifica que para semiconductores en equilibrio con cualquiera de los dos tipos de impurezas,<br />

el producto de las concentraciones de electrones y huecos, a una cierta temperatura, es siempre<br />

igual al cuadrado de la concentración de portadores intrínsecos:<br />

np<br />

En la práctica, en una muestra de semiconductor existen los dos tipos de impurezas y éste se<br />

comportará como tipo P o N según que predomine la concentración de las aceptoras o de las donadoras.<br />

Llamando N A<br />

a la concentración de las primeras y N D<br />

a la de las segundas, y suponiéndolas<br />

todas ionizadas, la condición de neutralidad del cristal impone la siguiente relación:<br />

n+ N = p + N<br />

En efecto: la concentración de carga positiva será la suma de la de huecos más la de impurezas<br />

donadoras que han cedido su electrón, y la concentración de carga negativa será la correspondiente<br />

a electrones e impurezas aceptoras ionizadas. La condición de carga neta nula demuestra la<br />

relación anterior.<br />

B) VÁLVULAS ELECTRÓNICAS*<br />

XXIX – 8. Efecto Edison-Richardson o termoiónico<br />

A<br />

= 2 VÁLVULAS ELECTRÓNICAS 707<br />

Consiste en la propiedad que tienen los metales en caliente de liberar electrones desde su superficie.<br />

La Fig XXIX-14, análoga a la Fig. XXIX-6, muestra la distribución de electrones para distintas<br />

temperaturas de un determinado metal; se observa que a temperaturas del orden de 3 000K existe<br />

un número apreciable de electrones (zona sombreada en la figura) con energía suficiente para superar<br />

la barrera de potencial superficial, que si se encuentran próximos a la superficie del metal<br />

pueden escapar de él.<br />

Los electrones liberados, atraídos por el metal que ha quedado cargado positivamente como<br />

consecuencia de la emisión, forman en las proximidades de la superficie una nube electrónica a la<br />

que se denomina CARGA ESPACIAL y que tiene por efecto aumentar el trabajo de extracción, E W<br />

, de<br />

nuevos electrones. Para mantener la misma intensidad de emisión hay que retirar inmediatamente<br />

los electrones liberados, lo que se consigue poniendo enfrente del metal emisor (cátodo) un electrodo<br />

a potencial positivo respecto de aquél (ánodo). Cuando el ánodo recoge todos los electrones<br />

emitidos por el cátodo, a la intensidad de corriente existente entre ellos se le llama INTENSIDAD DE<br />

SATURACIÓN. La corriente en condiciones de saturación se establece a partir de un valor mínimo de<br />

n i<br />

D<br />

Fig. XXIX-11.– Silicio (Si) impurificado<br />

con antimonio (Sb). Un electrón<br />

de valencia del Sb no interviene en<br />

los enlaces.<br />

Fig. XXIX-12.– Las impurezas del<br />

tercer grupo del sistema periódico<br />

dejan un enlace por átomo sin completar.<br />

Fig. XXIX-13.– Niveles donadores y<br />

aceptores introducidos por impurezas<br />

del quinto y del tercer grupo respectivamente.<br />

* Las válvulas electrónicas han sido sustituidas en su práctica totalidad por dispositivos semiconductores, que se verán a<br />

continuación.

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