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Volumen II - SAM

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La micrografía SEM de la Figura 5 muestra el corte transversal de una probeta, destacándose la película del<br />

recubrimiento de TiN y el valor de su espesor.<br />

Figura 5 - Medición de espesor de recubrimiento<br />

mediante SEM.<br />

Figura 6 - Espesor de TiN y CrN para diferentes<br />

condiciones PVD y conteo nodular.<br />

Tabla 3 - Microdureza e indices HF de adherencia de los recubrimientos<br />

Conteo nodular<br />

[nod/mm2 Dureza Knoop 15 g<br />

] [Kg/mm2 Adherencia<br />

] 60 Kg 150 Kg<br />

TiN [300 ºC - 120 min]<br />

265<br />

1200<br />

1715<br />

1602<br />

HF2<br />

HF1<br />

HF2<br />

HF1<br />

TiN [400 ºC - 60 min]<br />

265<br />

1200<br />

1202<br />

1307<br />

HF1<br />

HF2<br />

HF2<br />

HF3<br />

CrN [350 ºC - 90 min]<br />

265<br />

1200<br />

2138<br />

2105<br />

HF1<br />

HF1<br />

HF1<br />

HF1<br />

Los valores de espesor, mostrados en la Figura 6, se encuentran dentro de los rangos reportados en la<br />

bibliografía, de 1 a 5 µm para TiN y de 5 a 20 µm para CrN [7,10,11,12].<br />

Los espesores de TiN a 300ºC resultaron muy semejantes, pero el tiempo empleado para la deposición se<br />

duplicó. Ello constituye un factor económico desfavorable ante una posible implementación tecnológica,<br />

aunque su incidencia es relativa frente a las numerosas ventajas de las FE respecto a aceros colados y<br />

tratados térmicamente, que deberá ser ponderado en cada caso concreto. Por otra parte, como ya se dijo, la<br />

microestructura del ADI no sufrió degradación.<br />

Los valores de microdureza Knoop de los recubrimientos de TiN (300ºC-120min) y CrN listados en la Tabla<br />

3 se ubican dentro de los rangos reportados en la bibliografía, de 1500 a 3200 HV para TiN y de 1800 a 2100<br />

HV [6,7,11,13,14]. Aunque la profundidad de las improntas sobre el recubrimientos de TiN es del orden del<br />

15% (mayor al valor máximo recomedado del 10%), no se observa influencia del sustrato en las<br />

microdurezas de los recubrimientos. Se estima que las escasas diferencias de dureza de los sustratos de<br />

distinto conteo nodular (ver Figura 4) no permiten detectar tal efecto.<br />

La baja dureza del recubrimiento de TiN en condiciones de 400ºC-60min, bajas tensión de Bias y corriente<br />

de arco respecto del proceso I, puede atribuirse a una pelicula estructural y morfológicamente pobre (su<br />

análisis escapa a los objetivos de este trabajo). Por otra parte, debe citarse una característica intrínseca al<br />

proceso PVD por arco catódico que produce un plasma muy enérgico con gotas de Ti puro en suspensión,<br />

que luego se depositan sobre el sustrato [11,12]. Se supone que, para la temperatura mas alta, aumenta la<br />

cantidad de microgotas de Ti (dureza 240HV) insertas en el recubrimiento, reduciendo la dureza del mismo.<br />

1200 nod/mm 2<br />

265 nod/mm 2 1200 nod/mm 2<br />

a) HF1 - CrN 350ºC (60 Kg) b) HF2 - TiN 300ºC (60 Kg) c) HF3 - TiN 400ºC (150 Kg)<br />

Figura 7 - Indentaciones Rockwell sobre recubrimientos TiN y CrN.<br />

Las micrografías de la Figura 7 muestran algunas improntas de las indentaciones Rockwell (60 y 150 Kg)<br />

efectuadas sobre las muestras recubiertas. Se observan las diferencias en el grado de fisuración de la película<br />

en los bordes de las improntas. Los valores de los índices HF correspondientes a cada condición se listan en<br />

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