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Volumen II - SAM

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Congreso <strong>SAM</strong>/CONAMET 2009 Buenos Aires, 19 al 23 de Octubre de 2009<br />

4.1. Mediciones Dieléctricas en el Rango de Bajas Frecuencias<br />

El sistema de medición empleado en este trabajo consiste en un sintetizador Instek GW-830, un<br />

Osciloscopio Digital Tektronix TDS-210 y una interfase de medición dieléctrica desarrollada en el<br />

Laboratorio de Sistemas Líquidos de la Facultad de Ingeniería (UBA) [8] controlados por un computador<br />

personal (PC), como se esquematiza en la Figura 4. Bajo condiciones de excitación armónica (sinusoidal) de<br />

frecuencia angular ω, si se desprecian los efectos inductivos y las pérdidas, la permitividad de la muestra<br />

ε(ω) a la frecuencia angular ω es proporcional a la razón entre la admitancia de la celda conteniendo la<br />

muestra, Ys(ω), y la admitancia de la celda vacía, Yo(ω). Se tiene:<br />

( ω)<br />

( ω)<br />

( ω)<br />

s<br />

ε ε 0 =<br />

Y0<br />

( ω)<br />

Y C<br />

= ε 0<br />

(4.1)<br />

C<br />

0<br />

Figura 4. Sistema de medición dieléctrica en bajas frecuencias.<br />

4.2. Mediciones Dieléctricas en el Rango de Altas Frecuencias<br />

El sistema de medición empleado se esquematiza en la Figura 5. A partir del coeficiente de reflexión medido<br />

en el plano x=0, ρ(ω,0), definido como el cociente de las amplitudes complejas de las ondas de tensión<br />

incidente y reflejada: ρ(ω,0) = Vinc(ω) / Vref(ω), se determina la admitancia que presenta la celda<br />

portamuestras, YL(ω), ubicada en la posición x=L:<br />

( )<br />

( )<br />

i2kL<br />

1 1-ρ ω,0 e<br />

YL ( ω ) = (4.2)<br />

i2kL<br />

Z01+ρω,0 e<br />

En la ecuación (4.2), Z0 es la impedancia característica de la línea y el número de ondas k vale ω/v (siendo v<br />

la velocidad de propagación de las ondas electromagnéticas en la línea). Una vez obtenidos mediante la<br />

ecuación (4.2) los valores de admitancia correspondientes a la celda vacía y a la celda con muestra, para<br />

obtener la permitividad compleja de la muestra se aplica la ecuación (4.1). En este trabajo se utilizó un<br />

generador Agilent 8648A, un puente direccional Agilent 86205A con detector Agilent 423 y un Osciloscopio<br />

Digital Tektronix TDS-210. La línea de transmisión coaxial tiene Z0 = 50 Ohms, con v = 0.7 c.<br />

Figura 5. Sistema de medición dieléctrica en altas frecuencias.<br />

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