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Volumen II - SAM

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En el caso de la fase vítrea con el modelo de Le Bail, se refinó únicamente el factor de escala. Para las demás<br />

fases se refinaron el factor de escala, los parámetros de celda, y los parámetros que describen el perfil. El<br />

fondo del difractograma se calculó a partir de la interpolación entre pares de valores (2θ e intensidad). En el<br />

refinamiento, estas intensidades se mantuvieron fijas entre 5º y 45º, donde se presenta la banda del amorfo.<br />

En el resto del difractograma, las intensidades del fondo fueron refinadas.<br />

Antes de introducir la fase vítrea en el refinamiento de las muestras en estudio, se analizó la sílice amorfa<br />

pura, para determinar los parámetros cristalinos y de perfil.<br />

3. RESULTADOS<br />

Los resultados del análisis químico de las muestras se presentan en la Tabla 2. El contenido de ZrO2 fue<br />

calculado a partir del contenido de Zr elemental determinado por XRF.<br />

Tabla 2: Análisis Químico de las muestras AZS1 y AZS2<br />

Muestra SiO2 Al2O3 Fe2O3 CaO MgO Na2O K2O TiO2 ZrO2 PPC*<br />

AZS1 15,4 45,9 0,33 0,10 0,02 1,29 0,03 0,08 32,4 -0,20<br />

AZS2 14,7 45,9 0,42 0,12 0,02 1,28 0,03 004 32,3 0,00<br />

* PPC: Pérdida por calcinación<br />

Por DRX se identificaron Al2O3, ZrO2 monoclínica y tetragonal. No se identificó ninguna fase con Si, por lo<br />

que es de suponer que este elemento está presente como material no cristalino (fase vítrea). Cabe destacar<br />

que al ser la composición de la fase vítrea de estos materiales muy rica en sílice (≥70%) [3] se la puede<br />

aproximar como un vidrio de sílice.<br />

3.1 Método de Ohlberg:<br />

Para aplicar la ecuación de Ohlberg se midieron los fondos de los difractogramas de la fase vítrea pura, el<br />

cuarzo cristalino y las dos muestras. Ambas muestras presentaron casi idéntica intensidad en 22.5º. En la<br />

Figura 1 se observa un sector de los difractogramas de la muestra AZS1 y los patrones amorfo y cristalino y<br />

en la Tabla 3 se presentan los resultados obtenidos para ambas muestras.<br />

22.5º<br />

Figura 1: Difractogramas de cuarzo, sílice amorfa y de la muestra AZS1 en el rango 15º-35º.<br />

Tabla 3: Contenido de fase amorfa calculado mediante el método de Ohlberg (ec.(3)).<br />

Muestra % Am<br />

AZS1 23,3<br />

AZS2 23,2<br />

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