Volumen II - SAM

la atacó electrolíticamente con una solución de 50% ácido nítrico y 50% de agua destilada, que además,
reveló los bordes de fase y eventualmente de grano. Los ensayos de fatiga fueron realizados en una máquina
de ensayos universal INSTRON modelo 1362 bajo control de deformación plástica utilizando como señal de
entrada una onda triangular. El rango de deformación plástica utilizada es ∆εp=0.3% con una velocidad de
deformación de =
ε& 2x10 -3 . Se realizó primero un ensayo hasta la rotura en ambos estados del material
envejecida y no envejecida para conocer su respuesta cíclica. A partir de estos, se realizó un segundo ensayo
sobre las probetas con entalla con interrupciones cada 50 ciclos al comienzo y luego se espació cada 300
ciclos aproximadamente para estudiar la nucleación y propagación de microfisuras. La metodología utilizada
para la adquisición de las imágenes es un dispositivo óptico descrito a continuación y se utilizó un programa
de correlación de imágenes para detectar la nucleación de las fisuras.
El sistema óptico consta de un 12X Ultra Zoom de la empresa Navitar con un objetivo de 50X, distancia
focal de 13mm y profundidad de campo de +/- 1µm y una cámara mod. CM-140MCL de la empresa JAI con
CCD de ½” y barrido progresivo, el conjunto tiene un peso aproximado de 1.5 Kg. La resolución que se
obtiene es la de un microscopio óptico, o sea del orden del micron. El sistema de iluminación es una fuente
de luz mod. DCR III de la empresa FOSTEC y una conexión de fibra óptica al 12X UltraZoom. Dispositivo
mecánico para soportar el sistema óptico completo se muestra en la Fig. 3 y 4.
Figura 3 Figura 4
Figura 3. Dispositivo óptico completo en relación a la máquina de ensayos.
Figura 4. Posición del la lente objetivo del sistema respecto a la probeta.
El dispositivo (Figura 3) está fijado a una columna en la máquina de ensayos con dos bridas y una base
vertical, que sirve para, a) una rápida extracción de todo el dispositivo y b) para fijar y ajustar la posición del
soporte placa fijación, con ajustes para la altura (grueso eje Z). Al soporte placa fijación se le asegura la
placa de fijación rápida, con dos tornillos y cuatro piezas en forma de “T” que deslizan en ranuras
apropiadas y sirven para continuar con la alineación del sistema óptico (grueso ejes X, Y) con la probeta a
estudiar. A esta placa de fijación rápida se asegura, con un tornillo y dos guías, el subsistema movimientos
X Z de ajuste fino, el cual consta de tres piezas planas de aluminio de 10mm de espesor que cumplen
distintas funciones. La primera, base fijación la cual está asegurada a la placa de fijación rápida, soporta el
micrómetro del eje Z y los dos rodamientos que conforman el punto de rotación para el desplazamiento fino
del eje Z. La segunda, placa eje Z, se mueve en sentido del eje Z pivotando en los rodamientos fijados a la
base fijación, también es soporte del punto de articulación del eje X, plano de apoyo del mismo y soporte del
micrómetro eje X. La tercera placa, soporte óptica eje X, tiene la función de soportar, por medio de ajustes
elásticos el sistema de óptica y cámara CCD , esta placa pivota en un rodamiento horizontal y se apoya con
dos rodamientos de pequeñas dimensiones en un plano rectificado en la placa eje Z favoreciendo un
deslizamiento suave en el eje X.
Este dispositivo es de fácil manejo, consiste en ubicar la zona de estudio usando los micrómetros del eje X y
del eje Z, para luego poner la imagen en foco (si es necesario) con el ajuste de foco fino en la óptica. Dado
que los tornillos micrométricos están graduados, es bastante fácil reposicionarse en alguna singularidad de la
muestra, recordando los valores del eje X y del eje Z.
Finalmente, la Fig. 5 muestra la posición de la lente objetivo del sistema respecto a la probetas con el
extensómetro de medición.
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