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Volumen II - SAM

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Congreso <strong>SAM</strong>/CONAMET 2009 Buenos Aires, 19 al 23 de Octubre de 2009<br />

3. RESULTADOS Y DISCUSIÓN<br />

3.1 Sinterización y fases presentes<br />

Los materiales obtenidos presentaron porosidades aparentes bajas y comparables (≈5%). Las fases<br />

presentes fueron evaluadas por el método de Rietveld basado en el refinamiento del espectro de difracción<br />

de rayos X del polvo [8,9]. Los valores de las composiciones se muestran en la tabla 1:<br />

Tabla 1: Composición de los compositos (% p/p) evaluada por el método de Rietveld [8,9].<br />

MZZ15 MZZ25 MZZ35 MZZ45 MZZ55 MZZ65 MZZ75 MZZ85<br />

Mullita 46 45 36 33 27 21 15 10<br />

ZrO2 53 55 44 38 27 16 12 7<br />

ZrSiO4 1 0 20 29 45 62 72 83<br />

3.2 Microestructura:<br />

Figura 1: Micrografía MEB del material MZZ25; Ejemplo de la configuración A (P: poro, B: m-ZrO2,<br />

M: Mullita)<br />

Figura 2: Micrografía MEB del material MZZ55; Ejemplo de la configuración B (P: poro, B: m-ZrO2,<br />

M: Mullita, Z: Zircón)<br />

Figura 3: Micrografía MEB del material MZZ75; Ejemplo de la configuración C (P: poro, B: m-ZrO2,<br />

M: Mullita, Z: Zircón)<br />

Como era de esperar el cambio gradual de composición del grupo de compositos concluyó en un cambio<br />

gradual de su microestructura. Como se mencionó anteriormente la caracterización microestructural de<br />

los materiales se realizó mediante micrográfias obtenidas con un microscopio electrónico de barrido<br />

(MEB) secundado con EDAX para identificar la composición química de cada una de las fases. El rango<br />

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