Volumen II - SAM

Congreso SAM/CONAMET 2009 Buenos Aires, 19 al 23 de Octubre de 2009
3. RESULTADOS Y DISCUSIÓN
3.1 Sinterización y fases presentes
Los materiales obtenidos presentaron porosidades aparentes bajas y comparables (≈5%). Las fases
presentes fueron evaluadas por el método de Rietveld basado en el refinamiento del espectro de difracción
de rayos X del polvo [8,9]. Los valores de las composiciones se muestran en la tabla 1:
Tabla 1: Composición de los compositos (% p/p) evaluada por el método de Rietveld [8,9].
MZZ15 MZZ25 MZZ35 MZZ45 MZZ55 MZZ65 MZZ75 MZZ85
Mullita 46 45 36 33 27 21 15 10
ZrO2 53 55 44 38 27 16 12 7
ZrSiO4 1 0 20 29 45 62 72 83
3.2 Microestructura:
Figura 1: Micrografía MEB del material MZZ25; Ejemplo de la configuración A (P: poro, B: m-ZrO2,
M: Mullita)
Figura 2: Micrografía MEB del material MZZ55; Ejemplo de la configuración B (P: poro, B: m-ZrO2,
M: Mullita, Z: Zircón)
Figura 3: Micrografía MEB del material MZZ75; Ejemplo de la configuración C (P: poro, B: m-ZrO2,
M: Mullita, Z: Zircón)
Como era de esperar el cambio gradual de composición del grupo de compositos concluyó en un cambio
gradual de su microestructura. Como se mencionó anteriormente la caracterización microestructural de
los materiales se realizó mediante micrográfias obtenidas con un microscopio electrónico de barrido
(MEB) secundado con EDAX para identificar la composición química de cada una de las fases. El rango
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