Volumen II - SAM

Figura 7: Probeta T670N, imagen de SEM a 750X
de testigo T670N.
Figura 8: Perfil de N, Fe y Cr de la
capa nitrurada del testigo T670N.
El patrón de difracción obtenido por DRX (Figura 9) revela que la capa nitrurada de la probeta T670N está
compuesta por las mismas fases que para la de la T400N. No obstante, los picos de la fase γ´-Fe4N se
definen más claramente y además también se observa un pico adicional de la fase CrN y un corrimiento del
patrón de difracción de α´. El análisis de las imágenes obtenidas con TEM permite observar una matriz de
martensita no tan definida como la de la T400N. Sin embargo, el patrón de difracción de área selecta
obtenido (Figura 10) confirma los valores de los parámetros de la celda unitaria tetragonal de la fase α´ (a =
0.287 nm, c = 0.295 nm) previamente observados con XRD.
Figura 9: Difractograma acotado de testigos T670N. Figura 10: Patrón de difracción de la matriz de la
muestra T670N.
De acuerdo a los resultados presentados previamente, es posible establecer un cuadro comparativo entre las
dos capas estudiadas para establecer la influencia de la temperatura de revenido previo al nitrurado sobre la
formación de la capa nitrurada. Estos resultados se resumen en la Tabla 1:
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