Volumen II - SAM

obtenidas empleando un programa de medición. Mientras que el espesor local de la lámina fue estimado
aplicando: a) el método de difracción de haz convergente (CBD), figura 7-a, (midiendo la distancia entre los
centros de los discos (2θB) y las distancias entre la franja central del disco fuertemente exitado y cada uno de
las franjas oscuras del mismo disco (∆θi)); y/o b) midiendo las franjas de igual espesor en las micrografías de
campo claro tomadas en condición de dos haces, figura 7-b [5], para lo cual se estimó que la distancia de
extinción es ξ2110= 627Å al emplear g1 (2110) y ξ0002= 406Å al usar g2 (0002).
a)
0000
2θB
0002
∆θi
Figura 7: a) Patrón de difracción de haz convergente (CBD) con g=0002 fuertemente exitado. b)
Micrografia de campo claro de un grano alfa en la condición de dos haces usando g1.
Para discriminar las dislocaciones de tipo y se empleó el criterio de invisibilidad (ghkl.b = 0). Las
muestras se observaron en condición de dos haces: en un caso difractando fuertemente los planos (0002),
condición en que no pueden observarse las dislocaciones , y en otro exitando los planos (2110) situación
en la que no aparecen en las imágenes los lazos . En la Figura 8 se puede apreciar ambos tipos de
dislocaciones presentes en un mismo grano, en particular en 8 a-c se aprecian las dislocaciones de
aspecto irregular y en 8 d-e los lazos que tienen aspecto de segmentos cortos casi perpendiculares a la
fase β. En particular en las imágenes de campo oscuro, Figura 8-b y 8-e algunas dislocaciones se observan
con mayor definición, algo conveniente para medir con precisión su longitud.
d)
a)
b)
e)
Figura 7: Imagen MET del tubo ECLT, se observa en a) campo claro, b) campo oscuro de dislocaciones tipo
y en c) patrón de difracción con (2110) fuertemente exitado. d) campo claro, e) campo oscuro de
dislocaciones y e) patrón de difracción con (0002) en condición de difracción
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b)
c)
f)