Volumen II - SAM

Figura 3. Comparación de curvas dilatométricas de material en uso y material virgen.
2.4 Microscopía óptica y electrónica – Análisis EDS
Se embutieron en resina muestras de la zona interfacial, las que fueron pulidas a espejo en diferentes pasos
mediante papeles de SiC y acabado con pastas diamantadas.
Estas probetas fueron observadas en primera instancia por microscopía óptica, figuras 4 y 5, lográndose ver
fases cristalinas de diversos formatos, coloración y textura.
Figura 4. Microscopía óptica (500x). Interfaz Figura 5. Microscopía óptica (500x). Interfaz.
La identificación de distintas morfologías, nos permitió hacer análisis semicuantitativos puntuales en los
distintos cristales, tal como se puede apreciar en las figuras 6, 7 y 8 y sus tablas de datos correspondientes.
8
3
1 2
6
Expansión (%)
0,6
0,5
0,4
0,3
0,2
0,1
0,0
-0,1
-0,2
-0,3
-0,4
Interfaz
Material virgen
-0,5
0 200 400 600 800 1000 1200 1400 1600
Tem peratura (ºC)
Figura 6. Microscopía electrónica (600x). Interfaz. Figura 7. Microscopía electrónica (600x). Interfaz.
En la tabla 2, se presenta la composición química de los puntos señalados en la figura 6, así como también, la
fracción molar de cada óxido presente.
Tabla 2. Análisis EDS y relación molar.
Óxidos
P/p (%)
1
Mol (%)
2
P/p (%) Mol (%)
3
P/p (%) Mol (%)
Al203 34,74 0,34 40.78 0.40 34.38 0,33
SiO2 34,44 0,57 32.99 0.54 34.65 0,57
CaO 23,96 0,42 23.91 0.42 24.71 0,44
MnO 5,77 0,08 1.94 0,02 5.44 0,07
MgO 1,09 0,02 0.37 0.01 0.82 0,02
1471
12
4
5
9
10
7
11