Volumen II - SAM

Figura 3: Perfil de N, Fe y Cr de la capa
nitrurada del testigo T400N.
Figura 4: Difractograma acotado de probetas T400N.
El difractograma obtenido por XRD de la capa nitrurada (Figura 4) muestra claramente la presencia de la
fase ε-Fe2-3N (en 38.31°, 41.24°, 69.35° y 82.13°). El patrón de esta fase también muestra permutación del
plano de mayor intensidad de (110) hacia el plano (101). También en el patrón de difracción se pueden
observar trazas de CrN (43.47°, 79.80°), γ´-Fe4N (41.05°, 44.77° y 69.33°) y matriz martensítica nitrógenada
α´ (43.04°, 44.61°, 64.93°, 81.11°). Esto indica un corrimiento hacia menores ángulos de la fase α´ respecto
de la fase αFe.
No obstante, el análisis de las imágenes obtenidas con TEM permite observar placas de martensita, cuyo
patrón de difracción coincide con parámetros de la celda unitaria tetragonal (bct) de la fase martensita del
grupo espacial 139 (a = 0.287 nm, c = 0.308 nm).
Fig. 5: Micrografía TEM a 57.0K aumentos con placas de
martensita de probetas T400 (escala de 200 nm).
Fig. 6: Patrón de difracción de la matriz, de la
capa nitrurada T400N.
3.3 Caracterización de las capas nitruradas T670N
A diferencia de las muestras T400N, el análisis metalográfico efectuado en la capa nitrurada de material
T670N, revela la formación de una capa de espesor uniforme de ~50 μm. En la capa se midió un valor
máximo de microdureza de 1320 HV0.02, donde al igual que las muestras T400N, no se observan bordes de
grano.
La capa nitrurada T670N, presenta una interfaz capa–sustrato difusiva de ~20 μm de espesor (Figura 7). Esto
es corroborado por los diferentes perfiles de dureza (Figura 2). La muestra T670N presenta una caída
gradual de microdureza entre 40 y 60 µm de profundidad, que se corresponde con el perfil obtenido
empleando EDS entre 30 y 50 µm (Figura 8).
928