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Volumen II - SAM

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Muestra Fase<br />

T400N<br />

T670N<br />

4. DISCUSION<br />

Tabla 1: Resumen de los resultados obtenidos en los estudios<br />

microestructurales de las probetas T400N y T670N.<br />

Parámetro de celda [nm] (varianza)<br />

a c<br />

ε-Fe2-3N 0.2700 (0.0029) 0.4380 (0.0029)<br />

γ´-Fe4N 0.3790 (0.0013) ---<br />

Feα´ 0.2851 (0.0015) 0.3054 (0.0012)<br />

CrN 0.4140 (0.0023) --ε-Fe2-3N<br />

0.2700 (0.0045) 0.4380 (0.0052)<br />

γ´-Fe4N 0.3790 (0.0018) ---<br />

Feα´ 0.2833 (0.0027) 0.2938 (0.0051)<br />

CrN 0.4140 (0.0036) ---<br />

Máxima<br />

Microdureza<br />

Vickers<br />

Espesor de<br />

capa<br />

nitrurada<br />

[μm]<br />

Máxima<br />

concentración<br />

de N [wt%]<br />

1228 20 3.09<br />

1320 50 2.49<br />

Los estudios de EDS efectuados en la capa nitrurada de muestras T400N, indican una mayor concentración<br />

de N que en las muestras T670N (Tabla 1); esto se traduce en un incremento en el tamaño de la celda de la<br />

fase Feα´ con respecto a la muestra T670N. En este sentido, el análisis del patrón de difracción de la muestra<br />

T400N permite establecer una distorsión unidireccional de la fase Feα´, con un incremento en la relación c/a<br />

del 4.5 % respecto de la muestra T670N. Estos resultados fueron corroborados mediante la técnica de<br />

difracción de área selecta con TEM e implican una reducción del 3.17 % de la celda de la fase Feα´ de<br />

muestra T670N, respecto de la misma fase en T400N.<br />

Los resultados de los perfiles de concentración de Fe, Cr y N son consistentes con mediciones efectuadas<br />

por Y. Sun y T. Bell [8] y P. Van Wiggen et al [9] en aceros de baja aleación. Sin embargo, difieren<br />

notablemente con la concentración de N medida con Auger Electron Spectroscopy (AES) en acero AISI 420<br />

reportada por I. Alphonsa et al [1], quien midió cuatro veces más cantidad de nitrógeno con parámetros de<br />

tratamiento de nitrurado iónico similares a los del presente estudio.<br />

Las mediciones de microdureza en la muestra T400N, indican un incremento máximo de 2.27 respecto del<br />

sustrato (540 HV20). En T670N en cambio (340 HV20 en el sustrato), el aumento de dureza alcanza un factor<br />

de 4.0.<br />

Entre los resultados de microanálisis (EDS) y los de microdureza, se aprecia una diferencia en cuanto al<br />

espesor de la capa nitrurada. Esto podría originarse en que el umbral mínimo de concentración de nitrógeno<br />

para la técnica EDS es del orden del 0.5 wt%.<br />

El interesante trabajo realizado por Y. Sun y T. Bell [8] en 1991, sobre acero de baja aleación En40B,<br />

permite justificar varias características diferenciadoras entre las muestras T400N y T670N del presente<br />

estudio. Por un lado, el desarrollo de una capa nitrurada es un proceso controlado por difusión y el<br />

coeficiente de difusión del nitrógeno se reduce, cuando se incrementa el contenido de carbono en el sustrato.<br />

Durante el proceso de nitrurado, el sobre-revenido causa no sólo la reducción de la dureza del sustrato, sino<br />

que también genera una redistribución del Cr y del C en el sustrato, con una influencia significativa sobre el<br />

desarrollo de la capa nitrurada. Además, Sun y Bell señalan que el contenido de C tiene una significativa<br />

influencia sobre la relación de las fases ε:γ´, dado que γ´-Fe4N tiene un límite de solubilidad de 0.2 %wt para<br />

C, mientras que en la fase ε-Fe2-3N es del 3.6 %wt. Por lo tanto, el C facilita la formación de ε-Fe2-3N en la<br />

capa de compuestos, que de acuerdo al difractograma, es la fase predominante en la capa nitrurada de la<br />

muestra T400N (Figura 4). Por el contrario, los estudios de XRD de la muestra T670N (Figura 9) indican<br />

que no hay una fase predominante, sino que se aprecia una relación ε : γ´ próxima a la unidad.<br />

Por otro lado, el crecimiento de dureza en las capas nitruradas está directamente asociado con la captación<br />

del nitrógeno y precipitación de nitruros, es decir, la mayoría de átomos de nitrógeno se combina con Cr<br />

para formar CrN, que es la principal causa del efecto de endurecimiento inducido por nitruración. Esto<br />

podría ser el origen de la diferencia de dureza de la capa nitrurada entre muestras con distinto revenido, dado<br />

que en el difractograma del material T670N se aprecian varias reflexiones de CrN, que no se observaron en<br />

estudios de XRD de T400N (si bien podrían estar solapadas). También explicaría la presencia del escalón en<br />

el decrecimiento en la microdureza en la muestra T670N que se corresponde con una meseta de ~20 μm en<br />

el espectro EDS del contenido de nitrógeno.<br />

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