Volumen II - SAM

3.3 Modelo de Le Bail:
En la Figura 3 se presenta el refinamiento mediante el método de Rietveld utilizando el modelo de Le Bail
para la muestra AZS1 con, tras el refinamiento mediante el método de Rietveld antes descrito. Las líneas de
difracción corresponden a las fases: alúmina, zirconia monoclínica, sílice amorfa y zirconia tetragonal
respectivamente. Los contenidos de fase amorfa y la cuantificación de las demás fases por Rietveld se
presentan en la Tabla 4, junto con los obtenidos mediante el modelo de estándar interno.
4. CONCLUSIONES
Los tres métodos mostraron resultados equivalentes, con diferencias menores al 3% para dos muestras
provenientes de diferentes partidas del material estudiado y demostraron ser adecuados para el sistema de
estudio. Los resultados obtenidos concuerdan, dentro de la precisión de los métodos, con los valores
provistos por el fabricante (Tabla 1).
El método de Ohlberg, a pesar de su simplicidad puede ser utilizado sólo en muestras que no presenten líneas
de difracción en la zona de medida del fondo y sólo aporta información sobre el contenido de fase no
cristalina, sin cuantificar el resto de las fases.
Por último, si bien en la cuantificación de fases no cristalina de materiales tipo AZS se pueden obtener
resultados similares con ambas metodologías basadas en el método de Rietveld, el modelo de Le Bail es
recomendable porque no es necesario contaminar la muestra con un estándar interno y podría ser incorporado
fácilmente a un análisis rutinario del tipo Rietveld cuantitativo sin aumentar el número de ensayos de
difracción de rayos X.
5. REFERENCIAS
1. Duvierre, G., E. Sertain, and A. Rebert, Advantages of using high Zirconia refractories in lead crystal
glass electricfurnaces. Glass Technology, 1993.34 (5): p. 181-186.
2. Ratto, P.C., Réfractaires électrofondus du systeme AZS: différentes méthodes de fabrication oxydantes
et leurs impacts sur le comportement du réfractaire en service. Verre, 2002. 8 (3): p. 22-27.
3. Emile Lataste, Comportement mecanique et endommagement de refractaires electrofondus sous
sollicitation thermomecanique, Tesis Doctoral : INSA de Lyon, 2005
4. S.M. Ohlberg, D.W. Strickler. “Determination of Percent Crystallinity of Partial Devitrified Glass by
X-Ray Diffraction”; J. Am. Ceram. Soc. 45 (1962), p.170-171.
5. J.P.Willams, G. B Carrier, H. J Holland.and F.J.Farncomb, “The determination of the Crystalline
Content of Glass-Ceramics”; Journal of Materials Science 2 (1967) p. 513-520. .
6. S Morimoto, “Phase separation and crystallization in the system SiO2–Al2O3–P2O5–B2O3–Na2O
glasses”. Journal of Non-Crystalline Solids 352 (2006), p. 756–760
7. H.M Rietveld, “A profile refinement method for nuclear and magnetic structures”; J. Appl. Crystal., 2
(1969), p. 65-71.
8. R. A.Young, “The Rietveld Method”; 1993, International Union Crystallography, Oxford University
Press. Oxford.
9. D.L.Bish and S. Howard, “Quantitative phase analysis using the Rietveld method”; J. Appl. Cryst. 21
(1988), p. 86-91
10. N. V. Y. Scarlett, I. C. Madsen, L. M. D. Cranswick, T L, Edward Groleau, G Stephenson, M
Aylmore and N Agron-Olshina Outcomes of the International Union of Crystallography Commission
on Powder Diffraction Round Robin on Quantitative Phase Analysis: samples 2, 3, 4, synthetic bauxite,
natural granodiorite and pharmaceuticals. J. Appl. Cryst.. 35 (2002) p. 383-400
11. A. G De La Torre, S.Bruque, and. M. A. G.Aranda, “Rietveld quantitative amorphous content
análisis”. J. Appl. Cryst. 34 (2001), p. 196-202.
12. A Le Bail “Modelling the silica glass structure by the Rietveld method” Journal of Non-Crystalline
Solids 183 (1995), p. 39-42.
13. L. Lutterotti, R. Ceccato, R. Dal Maschio and E. Pagani, “Quantitative Analysis of Silicate glass in
Ceramic Materials by the Rietveld Method”; Mater. Sci. Forum 278-281 (1998), p. 87-92.
14. C. R.Ward and D. French, “Determination of glass content and estimation of glass composition in fly
ash using quantitative X-ray diffractometry”; Fuel 85 (2006), p. 2268–2277
15. Rodríguez - Carvajal, J. Recent Developments of the Program FULLPROF, in Commission on Powder
Diffraction (IUCr). Newsletter (2001), 26, p.12-19.
1462