08.05.2013 Views

Volumen II - SAM

Volumen II - SAM

Volumen II - SAM

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

Todos los especimenes fueron precalentados hasta 810 ºC, y austenizados a 1030 ºC y luego enfriados en<br />

aceite. Un grupo de testigos fue revenido a 400 ºC por 45 minutos (T400N). Estos alcanzaron 540 HV20 de<br />

dureza en el sustrato. El otro grupo de probetas fueron revenidas a 670 ºC (T670), alcanzando una dureza<br />

Vickers de 340 HV20. Todos los ejemplares fueron sometidos a las mismas condiciones de limpieza<br />

(efectuadas con 50%Ar/50%H2 durante 2 horas a 400 ºC, 800 Volts y 1.5 hpa de presión) y nitrurado por<br />

plasma (25%N2/75%H2 durante 20 horas a 400 ºC, 700 V y 6.5 hpa de presión). El enfriamiento final se<br />

realizó en la misma cámara con la atmósfera de trabajo.<br />

La fases presentes en las capas nitruradas fueron determinadas mediante DRX a través de la geometría de<br />

Bragg–Brentano, con un equipo marca Rigaku Denkid, model max <strong>II</strong>IC con radiación CuKα = 1.5405 Ǻ en<br />

un rango de 2θ de 25º a 90º, con velocidad de 2° por minuto y paso de 0.02°. A partir de los patrones de<br />

difracción, se efectuaron los refinamientos de las celdas unidad, mediante el programa MDI Jade versión<br />

7.0.<br />

La morfología de las fases y los perfiles de concentraciones de Fe, Cr y N en las capas nitruradas fueron<br />

caracterizadas utilizando técnicas de SEM y microanálisis EDS, en el microscopio Philips XL30 que cuenta<br />

con un equipo Edax DX4.<br />

Adicionalmente, se prepararon láminas delgadas con la técnica del doble jet (50 ml de ácido perclórico +<br />

450 ml de acido acético + 50 ml butilcelosolve) a temperatura ambiente [7], para la observación en el TEM<br />

Philips CM200. Los patrones de difracción de área selecta fueron analizados utilizando el software Electron<br />

Microscopy Image Simulation, desarrollado por el Center for Electron Microscopy (CIME), Lausanne,<br />

Suiza.<br />

La caracterización mecánica de las capas nitruradas fue efectuada mediante dureza Vickers con 20 kgf y<br />

perfiles de microdureza con 0.02 kgf de carga. Los ejemplares fueron pulidos manualmente en un plano<br />

perpendicular a la superficie nitrurada usando papel de SiC desde grano medio a fino y finalmente con Al2O3<br />

de 0.5 μm. Para revelar la microestructura fue utilizado el agente reactivo ‘Marble’ (10 gr CuSO4, 50 ml<br />

HCl, 50 ml de H2O).<br />

3. RESULTADOS<br />

3.1 Caracterización de las capas nitruradas T400N<br />

El análisis metalográfico de las capas nitruradas efectuadas para T400N, revela la formación de una capa de<br />

espesor uniforme de ~20 μm, donde no se distinguen bordes de grano y presenta una interfaz capa–sustrato<br />

abrupta (Figura 1).<br />

Figura 1: Imagen de SEM a 1500 X de probeta<br />

T400N.<br />

Figura 2: Perfiles de microdureza efectuados sobre<br />

las capas nitruradas<br />

El perfil de dureza (Figura 2) muestra un importante endurecimiento por efecto del tratamiento de<br />

nitruración, alcanzando un valor máximo de 1228 HV0.02, que disminuye hasta alcanzar la dureza del<br />

sustrato a una distancia de la superficie de ~25 μm. Asimismo, el espectro de EDS (Figura 3) es coincidente<br />

con los resultados anteriores en cuanto al decrecimiento del contenido de nitrógeno desde una concentración<br />

máxima de 3.09 % hasta ~0.15 % (%wt) en la interfaz a ~24 μm de la superficie.<br />

927

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!